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晶閘管長基區(qū)少子壽命測試儀
閱讀：848 發(fā)布時間：2019-6-10
- RNBC-352晶閘管長基區(qū)少子壽命測試儀
本儀器是晶閘管和整流管少子壽命的測試設(shè)備。適用于各種反向阻斷型晶閘管、逆導(dǎo)晶閘管、雙向晶閘管及各種整流管的參數(shù)測試。本測試儀設(shè)計津，結(jié)構(gòu)合理，并具有數(shù)字顯示，直接讀取少子壽命值，自動測試，操作簡便等特點。其技術(shù)指標符合GB4024-83標準的規(guī)定。是電力半導(dǎo)體器件生產(chǎn)廠為理想的檢測設(shè)備。
技術(shù)參數(shù)：
觸發(fā)電流范圍：0—500mA
少子壽命測量范圍：0.1—99μs
測試分辨率：0.1μs
重復(fù)測試頻率：1Hz
電源：AC 220V±10% 50HZ
溫度：0—40℃
整機功耗：小于50VA
整機重量：約10Kg
整機尺寸：440×150×440mm