冷熱沖擊試驗箱 芯片可靠性環(huán)境測試設(shè)備專為芯片可靠性測試設(shè)計的冷熱沖擊試驗箱，采用三箱式獨立控溫結(jié)構(gòu)，可精準(zhǔn)模擬 - 70℃至 150℃溫度環(huán)境，快速實現(xiàn)高溫區(qū)、低溫區(qū)與測試區(qū)的冷熱轉(zhuǎn)換，滿足芯片在不同溫度條件下的可靠性檢測需求。箱體采用高強(qiáng)度不銹鋼材質(zhì)，具備良好的耐腐蝕性與密封性，確保測試環(huán)境穩(wěn)定，同時配備 7 寸觸摸屏智能操控系統(tǒng)，操作便捷直觀。