通訊波段偏振消光比測量儀 參考價：面議
該消光比測試儀PEM-330采用技術制造，可實現(xiàn)1260～1630nm全波段測量。只需更換測試光源，無需購買多臺消光比測試儀，即可實現(xiàn)不同波段器件的精確測量，一...
超寬帶偏振態(tài)測量儀 參考價：面議
超寬帶偏振態(tài)測量儀結合了Meadowlark Optics公司*的液晶可變相位延遲器技術和偏振技術，具有超寬帶、高精度及無運動部件等特點。
光頻梳偏頻測量模塊（f-2f自參考） 參考價：面議
昊量光電新推出光頻梳偏頻測量模塊（f-2f自參考），為測量載波包絡偏移頻率(fceo)的f-2f自參考鎖定過程提供了一種緊湊且方便的解決方案。
深紫外斯托克斯偏振態(tài)測量儀 參考價：面議
深紫外斯托克斯偏振態(tài)測量儀：在紫外波長（180nm-200nm）范圍內基于雙PEM（光彈調制器）的偏振測量系統(tǒng)為量化光的斯托克斯參數(shù)提供精度與靈敏度。該科研級高...
光纖偏振態(tài)測量儀 參考價：面議
光纖偏振態(tài)測量儀：SK010PA是一款通用型偏振分析儀，該偏振分析儀通常用于對自由空間光路和保偏光纖光路進行偏振分析與測試。可實時對四個斯托克斯參數(shù)進行測量以獲...
微小區(qū)域薄膜厚度測量儀 參考價：面議
微小區(qū)域薄膜厚度測量儀-MPROBE 40 MSP，MProbe 40 測量薄膜厚度和折射率單擊鼠標在小地方。顯微分光光度計 (MSP) 集成在系統(tǒng)中同時結合顯...
原位薄膜厚度測量儀 參考價：面議
原位薄膜厚度測量儀-MPROBE 50 INSITU-昊量用于測量薄膜厚度和 n&k（光學常數(shù)）的實時光學測量儀。該系統(tǒng)可以在高環(huán)境光下工作，因為它使用門控數(shù)據(jù)...
小尺寸寬帶偏振態(tài)測量儀 參考價：面議
PolSNAP是一款緊湊的偏振測量儀，來自Hinds Instruments;公 司，數(shù)據(jù)采集速率為每秒2000個樣本，從而得以每秒快速確 定4個Stokes矢...
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