原子力顯微鏡的作用有：
1、在力測量中，原子力顯微鏡可以用來測量探針和樣品之間的力，作為它們相互分離的函數(shù)。這可以應(yīng)用于力譜分析，測量樣品的機械特性。
2、對于成像來說，探針對樣品施加在其上的力的反應(yīng)可以用于以高分辨率形成樣品表面的三維形狀(形貌)的圖像。這是通過光柵掃描樣品相對于頂端的位置并記錄對應(yīng)于恒定探針-樣品相互作用的探針高度來實現(xiàn)的。表面形貌通常顯示為偽彩色圖。
3、在操作中，頂端和樣品之間的力也可以通過可控的方式來改變樣品的性質(zhì)。這方面的例子包括原子操作、掃描探針光刻和細(xì)胞的局部刺激。
在采集形貌圖像的同時，可以局部測量樣品的其他特性，并顯示為圖像，通常具有類似的高分辨率。這種性質(zhì)的例子是機械性質(zhì)，如硬度或粘合強度，以及電性質(zhì)，如導(dǎo)電性或表面電勢。
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