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深圳市秋山貿(mào)易有限公司
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高規(guī)格半自動(dòng)四探針電阻/比電阻/薄層電阻測量儀-可根據(jù)客戶需求定制
2020-12-2 閱讀(1536)
日本napson高規(guī)格半自動(dòng)四探針電阻/比電阻/薄層電阻測量儀RT-3000 / RG-2000（RG-3000）
可根據(jù)客戶要求進(jìn)行各種定制
產(chǎn)品特點(diǎn)
- 具有醉佳電阻測量范圍的4探針法測量儀
- 測量模式可編程和圓形/方形測量兼容的繪圖軟件
- 自檢功能，厚度/外圍位置/溫度補(bǔ)償功能（用于硅）
- 根據(jù)電阻范圍從兩種類型的測試儀中選擇
- （RT-3000（S）：寬范圍的測量范圍，RT-3000（H）：高阻的測量范圍）
測量規(guī)格
測量目標(biāo)
- 與半導(dǎo)體/太陽能電池相關(guān)的材料（硅，多晶硅，SiC等）
- 新材料/功能材料（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等）
- 導(dǎo)電薄膜相關(guān)（金屬，ITO等）
- 擴(kuò)散樣本
- 硅基薄膜（LTPS等），IGZO
- 硅基外延離子注入樣品
- 其他（*請(qǐng)與我們聯(lián)系）
測量尺寸
?8英寸，或?156x156mm
-選項(xiàng)（兼容大直徑尺寸：RG-3000型）：?12英寸，?210 x 210毫米
測量范圍
①RT-3000（S）；
[電阻（比電阻）]100μ至1MΩ·cm
[片材電阻] 1m至10MΩ/
sq②RT-3000（H）;
[片材電阻] 10m至1GΩ/ sq
映射圖像
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日本napson高規(guī)格半自動(dòng)四探針電阻/比電阻/薄層電阻測量儀RT-3000 / RG-2000（RG-3000）
