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日本電測densoku便攜式薄膜膜厚計QNIx系列介紹

2020-4-24  閱讀(1253)

日本電測densoku便攜式薄膜膜厚計QNIx系列介紹

便攜式膜厚儀,可輕松提高麻煩的膜厚測量的生產(chǎn)效率

QNIx系列產(chǎn)品允許您僅使用超輕型緊湊型儀器和探頭即可測量薄膜厚度,而無需攜帶笨重的薄膜厚度計。
無線測量無需電纜。它有助于將測量數(shù)據(jù)傳輸?shù)絇C,也有助于防止測量過程中掉落事故。

QNIx系列功能

無需進(jìn)行膜校準(zhǔn)即可進(jìn)行精確的膜厚度測量

出廠時輸入了16點(diǎn)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。這樣就無需進(jìn)行麻煩的薄膜打樣工作,并且可以進(jìn)行精確的薄膜厚度測量。

膜厚測量數(shù)據(jù)傳輸?shù)男录夹g(shù)

在傳統(tǒng)的測量儀器中,測量儀器通過電纜連接到個人計算機(jī)以傳輸測量數(shù)據(jù)。QNIx系列使用“無線加密gou”,只需將其插入USB端口即可進(jìn)行傳輸。您可以更快,更輕松地瀏覽測量數(shù)據(jù)。

超輕便的無線測量儀

探頭測得的數(shù)據(jù)被無線發(fā)送到主機(jī)。它降低了被電纜卡住,像傳統(tǒng)產(chǎn)品一樣妨礙或?qū)е碌涫鹿实娘L(fēng)險。此外,該探頭重30克,非常輕巧,因此您無需攜帶笨重的儀器。

一種不易折斷且不會在測量對象上留下痕跡的探針。

QNIx系列探頭被增強(qiáng)塑料包圍,耐用性提高了30%。即使發(fā)生極少數(shù)的故障,拆卸和維修也很容易,因此縮短了維修時間。此外,它配備有紅寶石芯片,可以安全地進(jìn)行測量,而不會損壞要測量的對象(樣品)。

QNIx系列比較規(guī)格表

 QNIx 8500QNIx
4500/4200
QNIx 7500QNIx Carcheck系統(tǒng)QNIx方便
可測量的電影[F]黑色金屬上的非磁性涂層
[N]黑色金屬上的非導(dǎo)電涂層
[FN]黑色/黑色材料上的非磁性/非導(dǎo)電涂層
[FN]黑色金屬和有色金屬材料上的非磁性和非導(dǎo)電涂層[FN]鐵/鋁材料上的非磁性/非導(dǎo)電膜厚度
材料識別黑色金屬和有色金屬的
自動識別和交換
黑色金屬和有色金屬的
自動識別和交換
用戶的轉(zhuǎn)換黑色金屬和有色金屬的
自動識別和交換
鐵/有色,自動識別模式轉(zhuǎn)換
測量原理[F]磁通量(霍爾效應(yīng))
[N]渦流
測量范圍0至2,000μm
(可選:5,000μm)
0至3,000μm0至2,000μm
(可選:5,000μm)
0至5,000μm0?500微米
zui高
分辨率
0.1μm,1μm
[M] 0.01μm
1微米0.1微米0.1微米,1微米5微米
配置格式0點(diǎn)校正
用戶校準(zhǔn):1
[M] 100
0點(diǎn)校正0點(diǎn)校正沒有校準(zhǔn)功能沒有校準(zhǔn)功能
準(zhǔn)確度±(1微米+ 2%)
±3.5%
(2毫米或更多)
[T] ±
(0.3微米+ 2%)
±(2μm+ 3%)±(1微米+ 3%)±(1μm+ 2%)
±3.5%
(2mm以上)
±(10微米+ 5%)
測量速度1,500ms
(大約40次/分鐘)
[T] 920ms
(大約65次/分鐘)
[R] 1,600ms
(大約37次/分鐘)
600ms
(約70次/分鐘)
1,300ms
(約46次/分鐘)
1,500ms
(約40次/分鐘)
600ms
(約100次/分鐘)

便攜式薄膜測厚儀的型號代碼指南

[F]黑色金屬材料的非磁性膜厚度測量

[N]有色金屬材料的非導(dǎo)電膜厚度測量

[FN]用一根探針測量黑色金屬和有色金屬材料上的膜厚

[T]微型探針

[M]測量數(shù)據(jù)存儲功能,數(shù)據(jù)傳輸?shù)絇C

 



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