應力雙折射又稱光彈性效應。透明的各向同性的介質在壓力或張力的作用下，折射率特性會發(fā)生改變，從而顯示出光學上的各向異性。若介質本來就是各向異性晶體，則外力作用會使它產生一個附加的雙折射。塞貝克在1813年和布儒斯特在1816年zui早研究這一現象。對物體旅以壓力或張力，它就顯示出負單軸晶體或正單軸晶體的特性，有效光軸在應力方向上，并且所引起的雙折射與應力成正比。若應力在晶體上是不均勻的，在各處的雙折射就不一致，使通過它的光波上不同點產生不同的位相差。利用應力雙折射效應，可以檢驗光學材料的內應力，觀察各種力學結構的應力分布。

            利用應力雙折射研究應力分布的儀器稱為光測彈性儀，這種方法目前已發(fā)展成為一門專門的學科。稱為光測彈性學，它廣泛應用于材料力學的測量中。對機械結構中一些形狀復雜的部件。承受不同負荷時的應力分布是很復雜的。我們可以用透明材料制成相應的模型，并按實際使用時的受力情況對模型施以機械力，利用偏振光干涉裝置，就可分析應力分布。利用全息光測彈性技術，可觀察和分析樣品的乏維應力分布

理想的光學玻璃是各向同性的，但在退火過程中由于玻璃內外溫度不一致，或者退火爐內各處溫度不一致等都會產生內應力。光學玻璃內應力的存在，破壞了各向同性，產生雙折射現象，即內部應力的分布現象，現在利用測量雙折射現象來改進光學玻璃的生產工藝，以及用來對光學玻璃的質量控制，成為世界主流光學玻璃廠商的手段。

以下為大家介紹一款市場主流的雙折射測量設備，其測量原理就是利用光彈性效應，通過*的光子晶體技術，在的時間內給出整個樣品的雙折射測量結果，通過軟件的結合，可以zui終呈現給用戶直觀的樣品測量報告。

1，  光子晶體

簡單的來說就是偏光片的組合陣列，每一個小偏光片的大小是5um×5um，在整個陣列中又分為很多偏光組，每一組由四個不同偏光角度的偏光片組成。

2，  偏光影像傳感器

將光子晶體和CCD傳感器上每一個像素單元一一對應，這樣組合的偏光相機，拍攝觀測物就可以在極短的時間內的到觀測物體的雙折射數據。

3，  的測量

利用*的偏光影像傳感器再結合相對應的軟件系統(tǒng)，測量速度可以達到3秒，測量結果2D顯示，圖像與圖表的結合，是使用者更直觀的了解觀測物的雙折射現象。

        4，下面我們就對3D手機面板的測量結果進行一個展示。

1)         線分析

如上圖，在圖的左邊的樣品圖中間的位置，取一條線，圖的右半部份的折線圖表就是表示的這條線上的雙折射的變化，折線圖下方還有關于這條線上雙折射zui大zui小值，平均值以及誤差值的表格。

2)         區(qū)域分析

可任選一個區(qū)域，并對同一個樣品的不同區(qū)域進行對比。

也可以對不同樣品的測試結果的區(qū)域進行選取，來比對不同工藝的效果。