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詳細(xì)摘要： holmarc HO-HAI-TFR-01SP 薄膜光譜反射儀是用于工業(yè)和研究的薄膜厚度分析的基本儀器。Holmarc的TFSR型號：HO-HAI-TFR-01...

詳細(xì)摘要： HO-IAD-CAM-LLE 低液體低能表面接觸角儀與我們使用注射器將液體產(chǎn)生并將其滴到表面的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置不同，這種*的儀器可用于在液槽內(nèi)產(chǎn)生兩個獨立的液滴。使用*...

詳細(xì)摘要： HO-IAD-CAM-LLE用于液體低能表面的接觸角儀與我們使用注射器將液體產(chǎn)生并將其滴到表面的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置不同，這種*的儀器可用于在液槽內(nèi)產(chǎn)生兩個獨立的液滴。使用...

詳細(xì)摘要： holmarc Contact Angle Meter 接觸角儀是基礎(chǔ)教育設(shè)備，用于向?qū)W生介紹接觸角測量的基礎(chǔ)。它具有帶攝像頭界面的手動分配功能，用于測量液體在...

詳細(xì)摘要： holmarc IAD-CAM-01 Contact Angle Meter接觸角儀是基礎(chǔ)教育設(shè)備，用于向?qū)W生介紹接觸角測量的基礎(chǔ)。它具有帶攝像頭界面的手動分配...

詳細(xì)摘要： holmarc HO-IAD-CAM-01 接觸角儀是基礎(chǔ)教育設(shè)備，用于向?qū)W生介紹接觸角測量的基礎(chǔ)。它具有帶攝像頭界面的手動分配功能，用于測量液體在固體表面上的...

詳細(xì)摘要： holmarcAutomatic Refractometer自動折光儀是一款緊湊型儀器，用于在數(shù)字自動水平上測量折射率和白利糖度。AR-1700自動折光儀具有出...

詳細(xì)摘要： HO-AR-1700 Automatic Refractometer自動折光儀是一款緊湊型儀器，用于在數(shù)字自動水平上測量折射率和白利糖度。AR-1700自動折光...

詳細(xì)摘要： holmarc HO-AR-1700 自動折光儀是一款緊湊型儀器，用于在數(shù)字自動水平上測量折射率和白利糖度。AR-1700自動折光儀具有出色的精度，自動溫度補償...

詳細(xì)摘要： holmarc HO-ASP-500 自動光譜旋光儀帶有高光譜分辨率單色儀的石英鹵素?zé)舯挥米鞴庠础Ｍㄟ^使用石英鹵素?zé)?，可以?80-850nm的寬范圍分析波長上...

詳細(xì)摘要： holmarc Spectroscopic Polarimeter帶有高光譜分辨率單色儀的石英鹵素?zé)舯挥米鞴庠础Ｍㄟ^使用石英鹵素?zé)?，可以?80-850nm的寬...

詳細(xì)摘要： holmarc HO-ASP-500 光譜旋光儀，帶有高光譜分辨率單色儀的石英鹵素?zé)舯挥米鞴庠础Ｍㄟ^使用石英鹵素?zé)?，可以?80-850nm的寬范圍分析波長上執(zhí)...

詳細(xì)摘要： holmarc Digital Polarimeter 數(shù)字旋光儀采用了法拉第調(diào)制的對稱角振蕩光學(xué)零值技術(shù)，以實現(xiàn)高分辨率和可重復(fù)性。操作簡單：將裝滿樣品的管放...

詳細(xì)摘要： holmarc HO-DP-500C Digital Polarimeter采用了法拉第調(diào)制的對稱角振蕩光學(xué)零值技術(shù)，以實現(xiàn)高分辨率和可重復(fù)性。操作簡單：將裝滿...

詳細(xì)摘要： holmarc HO-DP-500C 數(shù)字旋光儀采用了法拉第調(diào)制的對稱角振蕩光學(xué)零值技術(shù)，以實現(xiàn)高分辨率和可重復(fù)性。操作簡單：將裝滿樣品的管放入自動旋光儀中，然...

詳細(xì)摘要： holmarc HO-A216MOE-PH 磁性材料表征橢偏儀推出了一種使用VIS-NIR波長的新型創(chuàng)新型高靈敏度和高磁場光譜橢偏測量設(shè)備。HOLMARC A2...

詳細(xì)摘要： holmarc HO-A216MOE-PH 自動化薄膜測試站 磁光橢偏儀推出了一種使用VIS-NIR波長的新型創(chuàng)新型高靈敏度和高磁場光譜橢偏測量設(shè)備。HOLMA...

詳細(xì)摘要： holmarc HO-A216MOE-PH 磁光橢偏儀推出了一種使用VIS-NIR波長的新型創(chuàng)新型高靈敏度和高磁場光譜橢偏測量設(shè)備。HOLMARC A216測試...

詳細(xì)摘要： holmarc HO-SE-01 變角橢偏儀結(jié)合了旋轉(zhuǎn)分析儀橢偏儀技術(shù)來表征薄膜樣品。它使用高速CCD陣列檢測來收集整個光譜。它可以測量從納米厚度到數(shù)十微米的薄...

詳細(xì)摘要： holmarc Variable Angle Spectroscopic Ellipsometer變角光譜橢偏儀結(jié)合了旋轉(zhuǎn)分析儀橢偏儀技術(shù)來表征薄膜樣品。它使用...