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E+H超聲波物位計對介質(zhì)環(huán)境及測量的影響
閱讀：748 發(fā)布時間：2018-3-15
E+H超聲波物位計
廣泛用于各行業(yè)中液體，氣體和蒸汽的體積流量測量。如過熱蒸汽，飽和蒸汽，壓縮空氣，氮氣，液化氣，廢氣，二氧化碳，軟化水，溶劑，鍋爐供水，冷凝物等等。蒸汽系統(tǒng)的質(zhì)量或熱量運算可以通過渦街流量計配壓力測量、溫度測量以及計算儀構成的能量測量系統(tǒng)準確測量，有效節(jié)能，減少成本。
E+H超聲波物位計的影響
(1)介質(zhì)及環(huán)境溫度的影響
超聲波從物料表面反射時，其反射頻率會受到物料溫度的影響而發(fā)生變化，為了補償這一變化，超聲波探頭內(nèi)裝有溫度傳感器，當探頭向處理器發(fā)送反射信號的同時，也把溫度信號送到微處理器，處理器將自動補償由于溫度對料位測量的影響。
此外，為了保證探頭的可靠工作，要求環(huán)境溫度不超過60℃。
(2)攪拌器對E+H超聲波物位計測量的影響
如果物料容器內(nèi)裝攪拌器，它同樣會反射超聲波信號，造成假反射回波，并被傳送到微處理器。微處理器將根據(jù)統(tǒng)計學原理處理真假面具回波，所以要求超聲波從物料表面反射的回波應至少為從攪拌器臂反射的回波的3倍。適當降低攪拌器的轉(zhuǎn)速，或?qū)⑻筋^偏離攪拌中心，都可以有效消除攪拌器產(chǎn)生的假面反射對料位測量的影響。