HAG-2000基準(zhǔn)級光澤度儀是實現(xiàn)基準(zhǔn)級光澤度和相對測量的科學(xué)級儀器，主要用于光澤度標(biāo)準(zhǔn)板檢定，光澤標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)量值傳遞。可精確測量20°、45°、60°、75°、85°的光澤度值，以及鏡面反射率分布曲線。測量方式避免了相對測量中因標(biāo)準(zhǔn)板和被測板鏡面反射率空間分布差異所導(dǎo)致的測量誤差，測量更加可靠，系統(tǒng)角度精度高、測量重復(fù)性好。

HAG-2000基準(zhǔn)級光澤度儀?是實現(xiàn)基準(zhǔn)級光澤度和相對測量的科學(xué)級儀器，主要用于光澤度標(biāo)準(zhǔn)板檢定，光澤標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)量值傳遞?？删_測量20°、45°、60°、75°、85°的光澤度值，以及鏡面反射率分布曲線。測量方式避免了相對測量中因標(biāo)準(zhǔn)板和被測板鏡面反射率空間分布差異所導(dǎo)致的測量誤差，測量更加可靠，系統(tǒng)角度精度高、測量重復(fù)性好。是實現(xiàn)基準(zhǔn)級光澤度和相對測量的科學(xué)級儀器，主要用于光澤度標(biāo)準(zhǔn)板檢定，光澤標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)量值傳遞?？删_測量20°、45°、60°、75°、85°的光澤度值，以及鏡面反射率分布曲線。測量方式避免了相對測量中因標(biāo)準(zhǔn)板和被測板鏡面反射率空間分布差異所導(dǎo)致的測量誤差，測量更加可靠，系統(tǒng)角度精度高、測量重復(fù)性好。

HAG-2000基準(zhǔn)級光澤度儀?主要特點

● 光澤度測量不確定度U≤0.7，(k=3)，滿足JJG 2069光澤度基準(zhǔn)要求；

● 光澤度和相對測量可選；

● 采用精密對準(zhǔn)裝置實現(xiàn)角度精確定位，角度精度高達0.01；

● 探測器接收立體角*符合ISO，ASTM，GB，TAPPI, JIS等標(biāo)準(zhǔn)的測量幾何要求，精確接收鏡面反射光；

● 光源與探測器通過濾色片精確匹配CIE C光源和CIE光視效率函數(shù)V（λ）；

● 掃描各角度的反射率分布曲線，還可以比較標(biāo)準(zhǔn)和被測樣品的表面分布差異。

 

參數(shù)	HAG-2000
測量角度	20°、45°、60°、75°、85°
接收角度精度	±0.01°
測量范圍	0.1-2000GU
測量誤差	±1.0 GU
零值誤差	0.1
分辨率	0-100：0.1；100-1000: 1
測量重復(fù)性	0-100：±0.2GU；>100: ±0.2%