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日立EA6000VX能量色散型X射線熒光分析儀能快速掃描
閱讀：794 發(fā)布時間：2019-3-6
能量色散型X射線熒光分析儀通過位置精度較高的自動樣品臺和高靈敏度性能，X射線熒光分析儀可以對微小異物進行快速掃描和檢查，也可對電子基板等復(fù)合材料制品的微小特定部位實施定點測量。
日立EA6000VX能量色散型X射線熒光分析儀能快速掃描
憑借zui大150萬CPS的高計數(shù)率檢測器完成高靈敏度的測量，以及借助zui大250mm×200mm范圍掃描的快速電動樣品臺，實現(xiàn)快速掃描測量。對于范圍為100mm×100mm的情況，可在2～3分鐘內(nèi)檢測出端子部分的鉛并確定其位置。
在測定微量成分時，由于X射線管的連續(xù)X射線所產(chǎn)生的散射線會產(chǎn)生較大的背景，致使目標峰的觀測比較困難。為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X射線對高靈敏度分析的影響，此熒光分析儀配置了4種可自動切換的濾光片，有效地降低了背景和散射X射線的干擾，調(diào)整出具感度的輻射，進一步提高了S/N的比值，從而可以進行更高靈敏度的微量分析。
為了隨時得到準確的分析結(jié)果裝置需要進行校正，而用戶們希望盡可能在短時間內(nèi)完成校正時的操作和判定。EDX-LE在開啟儀器后會對能量校正和定量值校正的操作進行幫助，當(dāng)需要進行校正時會自動進行校正。在日常操作中根據(jù)產(chǎn)品的不同會經(jīng)常變更管理值，而該產(chǎn)品可以根據(jù)管理方法對篩選分析條件輕松自定義。從開始分析到制成分析報告所有操作都可以更有效的進行。另一方面，該裝置在軟件操作上配備了權(quán)限限制設(shè)定，從而避免了沒有變更篩選分析條件權(quán)限的人員由于誤操作而改變條件的現(xiàn)象。