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詳細(xì)摘要： 二手FIB+雙束FIB+場發(fā)射電鏡在高科技領(lǐng)域，掃描電鏡（SEM）是揭示材料微觀世界的重要工具。美國FEI公司和賽默飛（Thermo Fisher Scientific）作為電鏡技術(shù)的企業(yè)，其產(chǎn)品在全球范圍內(nèi)被廣泛使用?；窗哺粎R電子有限公司，作為專業(yè)的第三方供應(yīng)商，現(xiàn)提供現(xiàn)貨供應(yīng)的美國FEI/賽默飛掃描電鏡。

詳細(xì)摘要： 二手SEM+EDX場發(fā)射電鏡:超高分辨率：場發(fā)射掃描電鏡，最大可放大100萬倍，提供超高清晰度的圖像。多功能探頭：配備SE（二次電子）、BSE（背散射）、EDS（能譜）和STEM（掃描透射）探頭，能夠?qū)崿F(xiàn)表面形貌觀察和成分分析。

詳細(xì)摘要： 耐馳二手DSC-200f3差示掃描量熱儀是用于測量樣品在一定氣氛及程序溫度下 ,樣品端與參比端熱流或熱功率差隨溫度及時(shí)間的關(guān)系，具有能定量測定多種熱力學(xué)和動(dòng)力學(xué)參數(shù)、寬溫度范圍、高分辨力、高靈敏度、樣品用量少等優(yōu)點(diǎn)。

詳細(xì)摘要： sigma500 二手蔡司場發(fā)射電鏡是蔡司公司推出的高性能設(shè)備，它采用成熟的GEMINI光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)，分辨率超過0.8nm，能提供優(yōu)秀分辨率和分析性能的科研平臺(tái)。這款設(shè)備專注于EDS幾何學(xué)設(shè)計(jì)，可以獲取分析性能，而且有多種探測器選擇，可以精準(zhǔn)匹配您的應(yīng)用程序，獲取微小粒子、表面、納米結(jié)構(gòu)等多種圖像信息

詳細(xì)摘要： 二手日立SU-8010場發(fā)射電鏡包括SU-8010主機(jī)和E-1045噴鉑噴碳裝置，并配備有EDAX X射線能譜儀。加速電壓為15kV時(shí)，分辨率為1.0nm，加速電壓為1kV時(shí)，分辨率為1.3nm。

詳細(xì)摘要： 二手HITACHI-SU8010高分辨場發(fā)射掃描電鏡場發(fā)射掃描電鏡可用于材料分析和研究，特別是材料斷口分析、微區(qū)成分分析、各種鍍膜表面形貌分析、層厚測量和顯微組織形貌及納米材料分析等。

詳細(xì)摘要： 二手shimadzu EDX-7000/LEplus SDD檢測器：Amptek產(chǎn)品為X射線熒光光譜儀（XRF）、RoHS分析、空氣環(huán)境測試、土壤、貴金屬、伽瑪射線的探測、考古、空間探測防等客戶提供高質(zhì)量及高可靠性完整X射線熒光光譜分析部件：X射線熒光光譜探測器、X射線光管、電荷靈敏前端放大器、數(shù)字脈沖處理器、電源、新型窗口材料B4C及分析軟件。與此同時(shí)，Amptek公司的混合前置放大器。

詳細(xì)摘要： （2）手日本電子JSM-7610Fplus（SEM測試，日本電子JSM-7610FPlus）適用于多種樣品的觀察和分析。實(shí)現(xiàn)了分辨率15kV 0.8nm、1kV 1.0nm的進(jìn)一步提升，以嶄新的JSM-7610FPlus形象亮相。采用半浸沒式物鏡和High Power Optics照明系統(tǒng)，提供穩(wěn)定的高空間分辨率觀察和分析。此外還具備利用GENTLEBEAMTM模式進(jìn)行低加速電壓觀察。

詳細(xì)摘要： 供應(yīng)進(jìn)口(二手熱重)tga熱重分析儀在振動(dòng)性、穩(wěn)定性、噪聲水平、室溫波動(dòng)的耐受性等測試中的表現(xiàn)都非常令人滿意?？汕逦鷻z測出樣品幾微克（的重量變化。另有高溫型（ H-型）以及大樣品量型（51-型）可滿足陶瓷、催化劑等領(lǐng)域的應(yīng)用需要。

詳細(xì)摘要： 供應(yīng)（二手）TA-DMA-Q800是TA儀器中的熱動(dòng)態(tài)機(jī)械分析DMA儀器，能為各種應(yīng)用提很好的解決方案。它巧妙地應(yīng)用了非接觸馬達(dá)的施加應(yīng)力以及低摩擦的空氣軸承技術(shù)。應(yīng)變的測量是通過光學(xué)編碼器，實(shí)現(xiàn)靈敏度和分辨率配合。

詳細(xì)摘要： （二手）美國TA-DMA-Q800動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀（DMA）是讓材料在周期變化的應(yīng)力作用下，測定其模量（剛性）和阻尼（能量損耗）特性。Q800動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀主要由馬達(dá)和位移傳感器兩大部分構(gòu)成，它巧妙地應(yīng)用了非接觸馬達(dá)精確的施加應(yīng)力以及低摩擦的空氣軸承技術(shù)，應(yīng)變的測量是通過光學(xué)編碼器，實(shí)現(xiàn)靈敏度和分辨率。通過儀器測量可以提供材料性能方面定性和定量的信息，為材料分析提供了方案。

詳細(xì)摘要： 二手TA動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀DMA-Q800DMA動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀用來測定在周期性振動(dòng)應(yīng)力下，材料隨時(shí)間、溫度或頻率變化而變化的力學(xué)性能和粘彈性能。應(yīng)用于熱塑性塑料、熱固性材料、復(fù)合材料、彈性體、陶瓷、金屬和其它粘彈性材料以及纖維、薄膜等。

詳細(xì)摘要： 二手sem+edx電鏡掃描電子顯微鏡（SEM）是在各種科學(xué)和工業(yè)應(yīng)用中用來以高分辨率檢查樣品表面的強(qiáng)大工具。與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡不同，SEMs使用電子而不是光來產(chǎn)生圖像。在SEM中，將聚焦的電子束掃描過樣品表面，電子與樣品之間的相互作用產(chǎn)生各種信號(hào)，被檢測到并轉(zhuǎn)換成圖像。初級電子束對表面進(jìn)行高精度掃描，以便對樣品的地形和形態(tài)進(jìn)行詳細(xì)檢查。SEM的主要優(yōu)點(diǎn)之一是能夠?qū)崿F(xiàn)高分辨率成像。

詳細(xì)摘要： 供應(yīng)二手島津edx-le/7000/8000能量色散X射線熒光光譜儀使用X射線照射樣品，測量所產(chǎn)生的熒光X射線的能量（波長）和強(qiáng)度，以確定樣品中元素組成的種類和含量。由于X射線熒光光譜法可以非破壞性分析固體、粉末、液體樣品，也可以快速、非破壞性的測試印刷電路板和其他電子設(shè)備中有害元素，因此被廣泛用于全球的電子電氣和汽車制造企業(yè)，應(yīng)用于符合歐盟RoHS/ ELV指令的檢查和質(zhì)量控制。

詳細(xì)摘要： 二手島津EDX-LE/7000/8000在當(dāng)今快速發(fā)展的科技和工業(yè)領(lǐng)域，精確的元素分析對于確保產(chǎn)品質(zhì)量、滿足法規(guī)要求以及推動(dòng)科研創(chuàng)新至關(guān)重要。島津企業(yè)推出的能量色散型X熒光光譜儀EDX-LE/7000/8000，正是這樣一款集高效、準(zhǔn)確與便捷于一體的分析儀器，廣泛應(yīng)用于RoHS/ELV法規(guī)限制的有害元素篩選分析、材料科學(xué)研究、環(huán)境監(jiān)測以及眾多工業(yè)領(lǐng)域。

詳細(xì)摘要： 二手ICP-OES重金屬測試儀提供出性能、快的分析速度和高的穩(wěn)定性。密封的設(shè)計(jì)的新一代VistaChipIICCD檢測器提供的分析性能。配合多種可選附件和軟件平臺(tái)，720系列ICP-OES能夠滿足各種類型實(shí)驗(yàn)室的分析需求。

詳細(xì)摘要： 二手JSM-7610Fplus場發(fā)射電鏡應(yīng)用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質(zhì)礦物、商品檢驗(yàn)、產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析。

詳細(xì)摘要： 二手蔡司場發(fā)射電鏡：具有出色的探測效率，能夠輕松地實(shí)現(xiàn)亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下，*高的表面細(xì)節(jié)信息靈敏度讓您在對任意樣品進(jìn)行成像和分析時(shí)都具備靈活性，為您在材料科學(xué)研究、生命科學(xué)研究、工業(yè)實(shí)驗(yàn)室或是顯微成像平臺(tái)中**各種類型樣品在微觀世界中清晰、真實(shí)的圖像，提供靈活、可靠的場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)和方案。

詳細(xì)摘要： 二手蔡司冷場電鏡，二手熱場場發(fā)射電鏡SUPRA 40是一款高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡，擁有第三代GEMINI 鏡筒，可變壓強(qiáng)性能加上多種納米工具的使用，不用花費(fèi)大量時(shí)間，使高分辨率成像和非導(dǎo)體樣本的分析成為可能，超大的樣品室適合各種類型探頭及配件的選擇。該場發(fā)射電鏡適用于材料領(lǐng)域、失效分析、過程控制，納米技術(shù)等。

詳細(xì)摘要： 進(jìn)口二手dsc-tga-tma-dma：熱分析是指用熱力學(xué)參數(shù)或物理參數(shù)隨溫度變化的關(guān)系進(jìn)行分析的方法。熱分析定義為：“熱分析是測量在程序控制溫度下，物質(zhì)的物理性質(zhì)與溫度依賴關(guān)系的一類技術(shù)。"根據(jù)測定的物理參數(shù)又分為多種方法