目錄:優(yōu)尼康科技有限公司>>薄膜厚度測量>>Filmetrics膜厚測量儀>> F54Filmetrics 光學(xué)膜厚測量儀
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池 | 波長范圍 | 190nm-1700nm |
| 光源 | 鎢鹵素?zé)簟㈦疅?/td> | 光斑大小 | 標(biāo)準(zhǔn)1.5毫米 |
| 測量精度 | 0.02nm | 準(zhǔn)確度*：取較大者 | 1nm或0.2% |
Filmetrics F54 白光干涉膜厚測量儀能以一個電動R-Theta平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達450毫米，可選擇數(shù)十種內(nèi)建之同心圓,矩形,或線性圖案模式,或自行建立無數(shù)量限制之測量點.只需具備基本電腦技能，就可在數(shù)分鐘內(nèi)自行建立配方。
自動化薄膜厚度繪圖系統(tǒng)，快速定位、實時獲得結(jié)果；
可測樣品膜層：基本上光滑的。非金屬的薄膜都可以測量；
測繪結(jié)果可用2D或3D呈現(xiàn)，方便用戶從不同的角度檢視；
當(dāng)入射光穿透不同物質(zhì)的界面時將會有部分的光被反射，由于光的波動性導(dǎo)致從多個界面的反射光彼此干涉，從而使反射光的多波長光譜產(chǎn)生震蕩的現(xiàn)象。從光譜的震蕩頻率，可以判斷不同界面的距離進而得到材料的厚度（越多的震蕩代表越大的厚度），同時也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。
顯示技術(shù) | 消費電子 | 派瑞林 | |
光刻膠 | OLED | 防水涂層 | 電子產(chǎn)品/電路板 |
介電層 | ITO和TCOs | 射頻識別 | 磁性材料 |
砷化鎵 | 空氣盒厚 | 太陽能電池 | 醫(yī)學(xué)器械 |
微機電系統(tǒng) | PVD和CVD | 鋁制外殼陽極膜 | 硅橡膠 |
波長范圍： | 190nm-1700nm | 光源： | 鎢鹵素?zé)?、氘?/span> |
光斑大?。?/span> | 標(biāo)準(zhǔn)1.5毫米 | 測量精度2： | 0.02nm |
準(zhǔn)確度*：取較大者 | 1nm或0.2% | 穩(wěn)定性3： | 0.05nm |
5X物鏡厚度范圍： | 20nm-120μm | ||
更多參數(shù)可聯(lián)系我們獲取 | |||
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
7
化工儀器網(wǎng)