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氣密性測試中出現(xiàn)負值的原因
閱讀：6108 發(fā)布時間：2017-6-7
在我們Trunchi檢漏儀長期測試過程中，根據(jù)實驗數(shù)據(jù)及測試，我們確定在測試過程中設備出現(xiàn)負壓的原因；
根據(jù)我們多年的經(jīng)驗和實踐論證，出現(xiàn)負壓主要包括以下幾個方面：
1.體積影響
這包括測試回路中由于氣壓導致內部體積微小變化或塑料件等受壓力影響產(chǎn)生變形，由于這些原因，使得體積發(fā)生變化，導致測試壓力增加，從而產(chǎn)生了負壓；
2.測試階段的時間過短
由于各階段的時間設置過短，導致在測試階段測試的壓力不穩(wěn)定，導致出線負壓；可以適當增加各階段的時間來改善
3.溫度的影響
如果在測試過程中留有殘余的溫度（如由于產(chǎn)品焊接過程殘留的剩余溫度，導致內部溫度不穩(wěn)定）
總之，測試過程中小的負壓是無害的，為了限定這個輕微的數(shù)據(jù)干擾，我們限定負壓的極限值為-10PA，更多的技術資料，請?zhí)K州創(chuàng)啟精密儀器有限公司；