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　　使用 4200A-SCS 加快半導體設備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。高性能參數(shù)分析儀，提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 測量。

　　參數(shù)查看，快速清晰。

　　大膽發(fā)現(xiàn)從未如此簡單。 4200A-SCS 參數(shù)分析儀可將檢定和測試設置的復雜程度降低高達 50%，提供清晰且不折不扣的測量和分析功能。 另外，嵌入式測量專業(yè)知識可提供測試指南并讓您對結果充滿信心。

　　特點

　　內置英語，中文，日語和韓語版本的測量視頻

　　使用數(shù)百個用戶可修改應用測試開始您的測試

　　自動實時參數(shù)提取、數(shù)據(jù)繪圖、算數(shù)函數(shù)

　　測量、 切換、 重復。

　　4200A-CVIV 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換，無需重新布線或抬起探頭端部。 與競爭產(chǎn)品不同，四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看，可快速完成測試設置，并在出現(xiàn)意想不到的結果時輕松排除故障。

　　特點

　　無需重新布線即可將 C-V 測量移動到任何設備終端

　　用戶可配置低電流功能

　　個性化輸出通道名稱

　　查看實時測試狀態(tài)

　　穩(wěn)定的低電流測量，適用于 I-V 檢定Making Stable Low Current Measurements on High Capacitance Test Connections Using the 4201-SMU and 4211-SMUPlay Video使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模塊，您可以在高電容系統(tǒng)中實現(xiàn)穩(wěn)定的低電流測量。4200A-SCS 有四種型號的源測量單位 (SMU) 可供選擇，可通過定制滿足您所有的 I-V 測量需求。通過提供現(xiàn)場可安裝單元和可選的預放大器模塊，Keithley 可確保您獲得準確的低電流測量，而停機時間很少甚至沒有。

　　使用 4201-SMU 和 4211-SMU，通過高測試連接電容進行穩(wěn)定的低電流測量

　　特點

　　不必將儀器送回工廠即可增加 SMU

　　進行 飛安測量

　　多達 9 個 SMU 通道

　　針對長電纜或大卡盤進行了優(yōu)化

　　帶分析探測器和低溫控制器的集成解決方案。

　　4200A-SCS 參數(shù)分析儀支持許多手動和半自動晶片探測器和低溫控制器，包括 MPI Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。

　　特點

　　“點擊”測試定序

　　“手動”探測器模式測試探測器功能

　　假探測器模式無需移除命令即可實現(xiàn)調試

　　降低成本并保護您的投資