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Rtec新一代多功能摩擦儀有以下特點(diǎn)*
?模塊化力以及扭矩傳感器設(shè)計(jì)，高載穩(wěn)定結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)， 適合科研以及工業(yè)的大范圍應(yīng)用。
?摩擦功能模塊化設(shè)計(jì)選項(xiàng)（可實(shí)現(xiàn)銷盤／球盤／盤盤／環(huán)環(huán)模式；高速線性往復(fù)模式；微動(dòng)；Timken?環(huán)塊；四球模式等）。
?測(cè)試設(shè)備采用高強(qiáng)度落地式結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，落地式高密度抗振降噪試驗(yàn)框架，具有在低載荷下本體剛度高降低本體噪聲，以及高載高頻下的優(yōu)異穩(wěn)定性。
?-60度至1000度溫
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
對(duì)高的水平分辨率的測(cè)量技術(shù)要求，三維共聚焦技術(shù)要好于白光干涉技術(shù)，（有溝槽）的檢測(cè)，三維共聚焦有著zui高水平分辨率。我們提供白光干涉測(cè)量和三維共聚焦共用平臺(tái)的技術(shù)
1、三維共聚焦有著 zui高兩倍于白光干涉技術(shù)的溝槽傾斜角檢測(cè)（slope）的優(yōu)點(diǎn)
對(duì)于磨損形貌和磨損深度/寬度/體積檢測(cè)有著非常大的優(yōu)勢(shì)。
2、2、適用于從光滑到各種非常粗糙的加工表面（涂層，機(jī)加工等）。干涉方法由于要求進(jìn)光和反射光必須形成干涉條紋，對(duì)粗糙表面和低反射表面很容易丟失數(shù)據(jù)測(cè)不到。三維共聚焦用共焦面層層掃描的技術(shù)，不會(huì)丟 失數(shù)據(jù)。
3、3、白光干涉技術(shù)有著zui高的垂直向分辨率，共聚焦技術(shù)有著zui高的水平分辨率，所以我們推薦技術(shù)的結(jié)合。
4、三維共聚焦可以檢測(cè)透明膜（DLC等），不受受干涉技術(shù)的限制
設(shè)備具有大工件平臺(tái)適用于實(shí)際零件、大的移動(dòng)位移可以貼接大的檢測(cè)表面。物鏡為日本（Nikon）尼康公司的干涉物鏡，為業(yè)界普遍采用。另外使用高像素５Ｍ攝像頭是實(shí)現(xiàn)高的水平分辨率的必要條件，我們有著業(yè)界zui高像素選配。
光源方面：
1、4色包括白光，紅光，綠光和藍(lán)光.
2、測(cè)試時(shí)可選用各種光源，其中藍(lán)光提供水平分辨率，白光提供垂直向分辨率.