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德國KROEPLIN卡規(guī)的校準方法
閱讀：2743 發(fā)布時間：2017-7-18
德國KROEPLIN卡規(guī)的校準方法
校準方法：
1、外觀：
1-1、要求：德國KROEPLIN卡規(guī)表面應無銹蝕、碰傷或其它缺陷，不得有磁性，使用中 及修理后允許有不影響使用準確度的外觀缺陷。
1-2、方法：目視
2、塞規(guī)圓度：
2-1、要求：通止規(guī)的圓度要求控制在0.005以內(nèi)。
2-2、方法：用外徑千分尺對塞規(guī)的同一截面在相互垂直的兩個方向進行檢定, 大于20mm的在45度四個方向進行檢定,zui大與zui小檢定之差的一半即為塞規(guī)此截面的圓度。
3、卡規(guī)兩測量面平行度
3-1、要求：兩測量面的平行度要求控制在0.005以內(nèi)。
3-2、方法：用三座標以卡規(guī)的一個測量面作基準面,再測量另一面,輸入測量面的長度及寬度計算出兩測量面的平行度。
4、尺寸誤差：
4-1、要求：自制塞規(guī)通端基本尺寸應為被檢尺寸下限尺寸,公差為+0.005/0mm
自制塞規(guī)止端基本尺寸應為被檢尺寸上限尺寸,公差為 0/-0.005mm
自制卡規(guī)通端基本尺寸應為被檢尺寸上限尺寸,公差為0/-0.005mm
自制卡規(guī)止端基本尺寸應為被檢尺寸下限尺寸,公差為+0.005/0mm
4-2、方法： 塞規(guī)以1級外徑千分尺在塞規(guī)通端及止端的口部和根部沿不同方向測出的zui大值即為檢定尺寸。
卡規(guī)用三座標以卡規(guī)的一個測量面作基準面,再測量另一測量面,取點測量,測出的zui小值即為檢定尺寸。