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TSI 公司舉辦“大氣環(huán)境顆粒物、超細顆粒物檢測技術交流會”
閱讀：5275 發(fā)布時間：2017-2-17
美國TSI在廣西南寧舉辦了"大氣環(huán)境顆粒物、超細顆粒物檢測進行技術交流會"，此次交流會邀請了當?shù)氐沫h(huán)境監(jiān)測部門、高?？蒲袡C構和當?shù)貎x器代理商。TSI公司現(xiàn)場介紹和展示了大氣氣溶膠檢測的系列產(chǎn)品，特別是關于1nm 掃描電遷移率粒徑譜儀，該款產(chǎn)品將氣溶膠研究和檢測提升到新的一個量級。交流會還就氣溶膠粒徑譜在關于灰霾源解析和常規(guī)大氣環(huán)境監(jiān)測中的重要作用進行探討以及對粒徑譜監(jiān)測數(shù)據(jù)收集和處理進行了交流。交流會后還參觀了廣西環(huán)科院大氣PM2.5研究監(jiān)測站。
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TSI推出的SMPS™ 掃描電遷移粒徑譜儀，被廣泛用于測量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的測量標準。選配3777型納米增強儀以及3086型DMA差分電遷移分析儀(1nm-DMA)組件后，SMPS粒徑譜儀能夠測量納米的粒徑范圍擴展至1nm。
3321 空氣動力學粒徑譜儀(APS™) 提供 0.5 至 20 微米粒徑范圍粒子的高分辨率、實時空氣動力學檢測。這些*的粒徑分析儀還檢測 0.37 至 20 微米粒徑范圍粒子的光散射強度。APS 粒徑譜儀通過向同一粒子提供成對數(shù)據(jù)向有興趣研究氣溶膠組成的人士開辟了令人振奮的新途徑。
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TSI 3330型光學顆粒物粒徑譜儀簡單輕便，能夠?qū)︻w粒物濃度和粒徑譜分布進行快速和準確的測量?；赥SI公司40年氣溶膠儀器設計的經(jīng)驗，本款產(chǎn)品使用120度光散射角收集散射光強度和精密的電子處理系統(tǒng)，從而得到高質(zhì)量和高精度的數(shù)據(jù)。同時，TSI工廠嚴格的標定標準也確保儀器的性。該產(chǎn)品是廣大環(huán)境研究機構和環(huán)境監(jiān)測部門進行顆粒物監(jiān)測分析和源解析的*儀器。
關于TSI公司
TSI公司研究、確定和解決各種測量問題，為市場服務。作為精密儀器設計和生產(chǎn)的行業(yè)，TSI與世界各地的科研機構和客戶合作，確立與氣溶膠科學、氣流、健康和安全、室內(nèi)空氣質(zhì)量、流體力學及生物危害檢測有關的測量標準。TSI總部位于美國，在歐洲和亞洲設有代表處，在其服務的各個市場建立了機構。每天，我們專業(yè)的員工都在把科研成果轉(zhuǎn)化成現(xiàn)實。