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北京交流磁粉探傷儀采用可控硅作無觸點(diǎn)開關(guān)，噪音小、壽命長、操作簡單方便、適用性強(qiáng)，工作穩(wěn)定。按磁化方式分為電磁軛探傷儀、旋轉(zhuǎn)磁場探傷儀，按電流分為交流、直流、交...

磁粉探傷儀便攜式磁粉探傷機(jī)北京供應(yīng)- 耐用的機(jī)殼，靈活的磁極，使您的測使隨心所欲- 體積小，重量輕- 磁極可將高能的磁場集中施加到各種形狀工件檢測區(qū)，快速準(zhǔn)確發(fā)...

微機(jī)控制熒光磁粉探傷機(jī)磁粉探傷儀北京1 . 檢測要求：檢查工件表面和近表面因鑄造、鍛造、機(jī)加工和疲勞而引起的裂痕等細(xì)微缺陷。2．設(shè)備配置、技術(shù)參數(shù)及功能。

北京低頻磁力探傷儀是無損檢測方法中磁力探傷的更新?lián)Q代產(chǎn)品，它突破了目前磁粉探傷只能探測金屬表面缺陷的局限，彌補(bǔ)了薄鋼板超聲探傷困難的缺點(diǎn)。探傷深度可達(dá)3-6mm...

不解體磁力探傷儀 技術(shù)參數(shù)：1、材料范圍：導(dǎo)電率 0.56 — 60m/qmm2、靈敏度:在光滑的金屬表面上可檢測出Z淺50um縱長裂紋痕寬度越窄,深度越深,靈...

北京紙張厚度測定儀1、測量范圍: 0－4mm2、度盤分度值：0.01mm3、接觸壓力：100±10kpa4、接觸面積：2±0.05cm25、...

北京瓦楞紙板厚度測定儀適用于測定瓦楞紙板的厚度，符合ISO3034，GB/T6547，QB/T1055標(biāo)準(zhǔn)中有關(guān)規(guī)定。主要技術(shù)參數(shù)：測量范圍：（0-18）mm分...

北京紙與紙板厚度測定儀　該儀器適用于４mm以下的各種紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。儀器結(jié)構(gòu)參數(shù)和技術(shù)性能均符合ＱＢ／Ｔ１０５３－９８《紙與紙板厚度測定儀...

北京塑料薄膜紙張厚度儀儀器適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、...

沉渣厚度測定儀 鉆孔灌注樁孔底沉渣厚度是成孔質(zhì)量的重要指標(biāo)之一。本儀器是專用于檢測孔底沉渣的鉆孔灌注樁孔徑檢測系統(tǒng)的配套儀器，采用特制的微電極系探管和*的電路設(shè)...

北京電磁軛探傷儀本系列產(chǎn)品主要適用于鍋爐、壓力容器、船舶、管道、鋼鐵結(jié)構(gòu)件等行業(yè)的磁粉探傷。儀器采用標(biāo)準(zhǔn)化設(shè)計(jì)，模具化生產(chǎn)，探頭通用互換，體積小、重量輕、提升力...

北京便攜式磁粉探傷儀·配有照明燈,因此有利于黑暗處適用。·可以把磁極旋轉(zhuǎn)成90℃使用,使用時(shí)可以調(diào)節(jié)磁極的極距。·防水,內(nèi)部結(jié)構(gòu)緊...

北京水果無損傷檢測設(shè)備是意大利尤尼泰克公司（UNITEC S.p.A.）開發(fā)上市的水果無損傷檢測設(shè)備，采用全新技術(shù)，體積只有10.5cm長,13.0cm寬，12...

北京水果無損傷檢測設(shè)備，采用光電方式測量水果中 的葉綠素含量來判定水果的成熟度，儀器將成熟度分為幾個(gè)等級(jí)，以DA為單位顯示在屏幕上，即可知道水果的成熟度。該儀器...

北京高衰減材料探傷儀USD 10NF 德國K.K公司USD10是微處理機(jī)控制，特殊和多功能，元?dú)庥诓僮髑覠o需交電的儀器。 示波屏上顯示清晰度強(qiáng) 可作回波顯示和文...

北京水果品質(zhì)無損檢測儀不需將水果切開，直接將探測頭接觸于待測水果的表面，測定水果的甜度和酸度。在采摘水果之前：測定水果的甜度和酸度有利于栽培指導(dǎo)及成熟度的監(jiān)控，...

北京X射線探傷機(jī)集國內(nèi)外控制器的優(yōu)點(diǎn)于一身，去除了通?？刂破鞯囊装l(fā)故障，使機(jī)器的運(yùn)行更加安全和可靠，給您的工作帶來便捷和高效。當(dāng)您拿到本產(chǎn)品說明書我們即建立了，...

電腦智能型鋼絲繩探傷儀 鋼絲繩探傷儀北京供應(yīng)該探傷儀為光機(jī)電一體化產(chǎn)品，自帶大屏幕中文LED液晶背光顯示器和小型打印機(jī)?？蓪?duì)被測鋼絲繩長度、斷絲根數(shù)定量、定位檢...

北京X射線探傷機(jī) 無損檢測工作中的主要設(shè)備之一，可供各行業(yè)對(duì)各種鋼鐵、非金屬等材料形成的零件或焊縫的檢查，用X射線透視拍片法，從底片上確定其內(nèi)部缺陷（裂紋、汽孔...

北京超聲波測厚儀- 可配標(biāo)準(zhǔn)、超厚、超薄和高溫探頭- 自動(dòng)探頭識(shí)別、V聲程校正、零位校正- 帶Z小讀數(shù)顯示和存儲(chǔ)的Z小測量模式。