動態(tài)二次離子質(zhì)譜儀 參考價(jià)：面議
動態(tài)二次離子質(zhì)譜儀（D-SIMS）是使用一次離子束（通常是Cs源）轟擊樣品表面，而產(chǎn)生二次離子，然后用質(zhì)譜分析儀分析二次離子的質(zhì)荷比（m/q），從而得知元素在樣...
掃描俄歇納米探針 參考價(jià)：面議
PHI 710掃描俄歇納米探針是一臺設(shè)計(jì)*的高性能的俄歇電子能譜（AES）儀器。該設(shè)備能分析納米級特征區(qū)域，超薄薄膜和多層結(jié)構(gòu)材料表界面的元素態(tài)和化學(xué)態(tài)信息。作...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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