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高低溫試驗(yàn)箱 ≠冷熱沖擊試驗(yàn)箱
點(diǎn)擊次數(shù)：72 發(fā)布時(shí)間：2025-7-9
在環(huán)境可靠性測(cè)試中，“冷熱沖擊試驗(yàn)"和“高低溫試驗(yàn)"經(jīng)常被提及。不少初入行業(yè)的工程師會(huì)誤以為它們是同一回事，或隨意替代使用。
實(shí)際上，這兩者在試驗(yàn)?zāi)康?、方式、參?shù)要求等方面存在顯著差異，若選型錯(cuò)誤，不僅會(huì)影響產(chǎn)品驗(yàn)證結(jié)論，甚至可能導(dǎo)致可靠性風(fēng)險(xiǎn)。
本文以各項(xiàng)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)，梳理技術(shù)要點(diǎn)，一次性理清它們的區(qū)別。
一.冷熱沖擊試驗(yàn)：瞬間破壞、考驗(yàn)結(jié)構(gòu)失效
冷熱沖擊試驗(yàn)是指試樣在兩個(gè)溫差較大的環(huán)境之間進(jìn)行快速切換，考察其在劇烈熱脹冷縮作用下的適應(yīng)性和結(jié)構(gòu)可靠性。常用于焊接結(jié)構(gòu)、封裝材料、電子器件等應(yīng)力敏感型產(chǎn)品的破壞性篩選或設(shè)計(jì)驗(yàn)證。
?? 參考標(biāo)準(zhǔn)：
《GB/T 2423.22-2012》：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)N：溫度變化
《IEC 60068-2-14:2009》：Test Na（快速溫度變化）
《MIL-STD-883H Method 1010.8》：電子元件用溫度沖擊試驗(yàn)
二.高低溫試驗(yàn)：緩變溫度、考察老化與適應(yīng)性
高低溫試驗(yàn)是一種程序控制的緩慢升降溫試驗(yàn)，用于評(píng)估產(chǎn)品在多次熱應(yīng)力交替作用下的疲勞老化特性，常用于整機(jī)、材料、結(jié)構(gòu)件的可靠性評(píng)估。
?? 參考標(biāo)準(zhǔn)：
《GB/T 2423.1-2021》：低溫試驗(yàn)方法（Test A）；《GB/T 2423.2-2021》：高溫試驗(yàn)方法（Test B）
《GB/T 2423.22-2012》：溫度變化（Test N）；《IEC 60068-2-14》：溫度變化試驗(yàn)（Test Nb）
三.標(biāo)準(zhǔn)對(duì)比：冷熱沖擊 vs 高低溫試驗(yàn)
四.實(shí)際測(cè)試中常見選型誤區(qū)
溫度循環(huán)也能看焊點(diǎn)開裂？
→ 由于溫變過慢，高低溫循環(huán)無法模擬突發(fā)熱應(yīng)力；焊點(diǎn)裂紋等需要瞬間膨脹破壞的應(yīng)力條件，必須通過冷熱沖擊方式暴露。
冷熱沖擊比高低溫循環(huán)更適用于各類溫度試驗(yàn)？
→ 二者各有用途。冷熱沖擊用于設(shè)計(jì)極限測(cè)試或出廠前篩選，高低溫循環(huán)則更適合長(zhǎng)期老化評(píng)估?；煊脺y(cè)試方法反而會(huì)“錯(cuò)殺"或“誤放"問題。
五.試驗(yàn)箱說明：以三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱為例
以下為我司SETH賽思三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu)與參數(shù)，適用于GB/T、IEC、MIL等標(biāo)準(zhǔn)下的快速應(yīng)力測(cè)試。
產(chǎn)品規(guī)格：SET-A3表示-40℃～+150℃/ A4表示-55℃～+150℃/A5.表示-65℃～+150℃
? 型號(hào) | SET-A | SET-B | SET-C | SET-D | SET-G | |
內(nèi)部尺寸 (W x D x H cm) | 40×35×35 | 50×50×40 | 60×50×50 | 70×60×60 | 80×70×60 | |
外部尺寸 (W x D x H cm) | 140×165×180 | 150×190×185 | 160×190×185 | 170×240×195 | 180×260×200 | |
結(jié)構(gòu) | 三箱式（預(yù)冷箱）（預(yù)熱箱）（測(cè)試箱） | |||||
溫度恢復(fù)時(shí)間 | 小于5分鐘（出風(fēng)口測(cè)量） | |||||
溫度均勻度 | ≤2℃ | |||||
溫度波動(dòng)度 | ≤±0.5℃，按GB/T5170-1996表示 | |||||
溫度偏差 | ±2℃ | |||||
測(cè)試方法 | 三箱法標(biāo)準(zhǔn)//兩箱法標(biāo)準(zhǔn) | |||||
冷凍系統(tǒng) | 機(jī)械壓縮二元式 復(fù)疊制冷方式 | |||||
溫度范圍 | 預(yù)熱溫度 | +50～+200℃ | ||||
高溫暴露 | +50～+150℃ | |||||
預(yù)冷溫度 | R.T～-75℃ | |||||
低溫暴露 | -40℃～0℃/ -55℃～0℃/ -65℃～0℃ | |||||
控制器 | 中文彩色觸摸屏+ PLC控制器（SETH/賽思自行開發(fā)） | |||||
控制方式 | 靠積分飽和PID，模糊算法 平衡式調(diào)溫P.I.D + P.W.M + S.S.R | |||||
標(biāo)準(zhǔn)配置 | 附照明玻璃窗口1套、試品架2個(gè)、測(cè)試引線孔1個(gè) | |||||
冷卻方式 | 水冷（水溫7℃～28℃，水壓0.1～0.3Mpa），以便確保降溫性能 | |||||
安全保護(hù) | 漏電、短路、超溫、電機(jī)過熱、壓縮機(jī)超壓、超載、過電流保護(hù) | |||||
電源電壓 | AC380V 50Hz三相四線+接地線 | |||||
冷熱沖擊是“快準(zhǔn)狠"的破壞驗(yàn)證；高低溫循環(huán)是“慢扎實(shí)"的長(zhǎng)期耐久篩查。