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當前位置：上海妙定電氣有限公司>>技術文章>>影響介質(zhì)損耗試驗的因素及試驗分析
介質(zhì)損耗試驗測量的是是介質(zhì)損失角正切值或功率因素，在外加交流電壓的作用下，絕緣介質(zhì)就流過電流，電流在介質(zhì)中產(chǎn)生能量損耗，這種損耗稱為介質(zhì)損耗。介質(zhì)損耗很大時，就會使介質(zhì)的溫度升高而老化，甚至導致熱擊穿。因此，介質(zhì)損耗的大小就反映了介質(zhì)的優(yōu)劣狀況。
影響因素：
1、溫度的影響。tgδ值受溫度影響而變化，為了比較試驗結果，對同一設備在不同溫度下的變化必須將結果歸算到一個公共的基準溫度，一般歸算到20℃
2、濕度的影響。在不同的濕度下測得的值也是有差別的，應在空氣相對濕度小于80%下進行試驗。
3、絕緣的清潔度和表面泄漏電流的影響。這可以用清潔和干燥外表面來將損失減到小，也可采用涂硅油等辦法來削除這種影響。
分析判斷：
1、和《電力設備預防性試驗規(guī)程》的要求值作比較。
2、對逐年的試驗結果應進行比較，在兩個試驗間隔之間的試驗測量值不應該有明顯的變化。
3、當tgδ值未超過規(guī)定值時，可以補充測量電容量來分析，電容量不應該有明顯的變化。
4、應充分考慮溫度等的影響，并進行修正。
5、通過測tgδ=f(U)的曲線，觀察tgδ是否隨電壓而上升，來判斷絕緣內(nèi)部是否有分層、裂紋等缺陷。
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