瑞芯智造 Nanocoulter G 納米庫爾特粒度儀

打破DLS/NTA光學(xué)局限，媲美電鏡的單顆粒檢測技術(shù)。

瑞芯智造（深圳）科技有限公司在此基礎(chǔ)上開發(fā)的納米庫爾特粒度儀，shou創(chuàng)固體納米孔顆粒分析平臺，繞開傳統(tǒng)光學(xué)檢測方法的弊端（大顆粒遮擋小顆粒散射光；樣本折射率、吸光度、黏度影響測試結(jié)果），采用新一代電學(xué)檢測方法，將傳統(tǒng)的庫爾特計(jì)數(shù)儀的粒徑檢測下限從微米級下探到50nm，粒徑分辨率可達(dá)1nm，實(shí)現(xiàn)納米顆粒單顆粒檢測，一次測試得到多維度數(shù)據(jù)（粒徑、濃度、zeta電位、形態(tài)），在科學(xué)研究、生產(chǎn)品控、工藝控制、臨床診斷、醫(yī)藥研發(fā)等需要高精度納米顆粒檢測的場景，提供精準(zhǔn)的數(shù)據(jù)，帶您走進(jìn)精彩紛呈的納米世界。

產(chǎn)品介紹：

粒徑 | 媲美電鏡的粒徑測量精度

NanoCoulter測量聚苯乙烯標(biāo)準(zhǔn)微球等樣本的平均粒徑與粒徑分布，其結(jié)果與電鏡 (S E M ) 數(shù)據(jù)準(zhǔn)確度及精度吻合。

濃度 | 精準(zhǔn)的濃度測量與重復(fù)性

將樣本梯度稀釋，濃度數(shù)據(jù)線性關(guān)系良好 ，且與理論濃度相一致 (固含量理論計(jì)算) , 10次重復(fù)測試，C V < 5 % 。

電位 | 單顆粒Zeta電位測量

Zeta電位是一個表征分散體系穩(wěn)定性的重要指標(biāo)。在恒定電場作用下，顆粒移動速度與Zeta的絕對值正相關(guān)。NanoCoulter測量顆粒通過納米孔的時間從而獲得zeta電位數(shù)據(jù)，因此是*一可以做到單顆粒粒徑、Z e t a 電位、濃度同時測量的技術(shù)平臺。

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