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涂層測(cè)厚儀操作規(guī)程
閱讀：4039 發(fā)布時(shí)間：2016-10-18
涂層測(cè)厚儀操作規(guī)
一、技術(shù)參數(shù)
? 采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法。通過(guò)選擇相應(yīng)的測(cè)頭，即可測(cè)量磁
性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度，又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋
層的厚度；
? 測(cè)量范圍：（0~1250）μm（F1、N1測(cè)頭），F10測(cè)頭可達(dá)10mm；
? 分辨率：0.1μ（F1、N1測(cè)頭）
? 示值精度：±（3％H+1）μm；H為被測(cè)涂層厚度
? 顯示方法：高對(duì)比度的段碼液晶顯示，高亮度EL背光；
? 存儲(chǔ)容量：可存儲(chǔ)20組（每組zui多50個(gè)測(cè)量數(shù)值）測(cè)量數(shù)據(jù)
? 單位制：公制μm、英制（mil）、可自由轉(zhuǎn)換
? 工作電壓：3V（2節(jié)5號(hào)堿性電池）
? 持續(xù)工作時(shí)間：大于200小時(shí)（不開(kāi)背光燈）
? 通訊接口：USB1.1，可與PC機(jī)連接、通訊