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火花直讀光譜儀原理和要求介紹
火花直讀光譜儀是分析黑色金屬及有色金屬成份的快速定量分析儀器。本儀器廣泛應(yīng)用于冶金、機(jī)械及其他工業(yè)部門，進(jìn)行冶煉爐前的在線分析以及中心實(shí)驗(yàn)室的產(chǎn)品檢驗(yàn)，是控制產(chǎn)品質(zhì)量的有效手段之一。
火花直讀光譜儀原理的基本要求
火花直讀光譜儀經(jīng)光電轉(zhuǎn)換設(shè)備，轉(zhuǎn)變成為光電流。因此叫做譜線強(qiáng)度，從而直接測定此電流的方法稱為直接法，所以可以測量瞬時(shí)值，我們要是把這種電流向電容設(shè)備中充電，經(jīng)過一段時(shí)間之后，我們再測電容設(shè)備上的電壓大小稱積分法，我們所獲得的信號是充電時(shí)間內(nèi)的平均值。
因此，必須注意在光電轉(zhuǎn)換設(shè)備上所產(chǎn)生的光電流與光強(qiáng)成線性關(guān)系（由試驗(yàn)而知，光電倍增管在光作用下所產(chǎn)生的光電流與光強(qiáng)的關(guān)系可能不成線性關(guān)系），并且要知道光電流與電容量上的電壓成線關(guān)系。
火花直讀光譜儀光電倍增管所產(chǎn)生的信號是很微弱的，因此必須放大，綜合利用直讀光譜儀對已經(jīng)放大的信號進(jìn)行測量，但是不管怎樣，每種放大設(shè)備都是利用獲得的小信號的變化來控制大信號的變化的原理產(chǎn)生的，既而有可能推動測量儀設(shè)備進(jìn)行工作。在直讀光譜儀設(shè)備中，主要用的設(shè)備室低頻弱電放大設(shè)備，低頻就是指聲頻范圍以內(nèi)的工作頻率。
因此，火花直讀光譜儀的基本要求是積分電容設(shè)備上的電壓與光信號的強(qiáng)度成線性關(guān)系。光電直讀光譜分析的基本原理和他所建立的分析方法是建立在攝譜法的基本原理及其實(shí)驗(yàn)技術(shù)基礎(chǔ)上，只是測定參數(shù)及數(shù)據(jù)處理方法不同而已。激發(fā)光源等離子體中的原子濃度決定了直讀光譜儀發(fā)射光譜的譜線強(qiáng)度。
火花直讀光譜儀分析法是依靠光電倍增管把光信號強(qiáng)度轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘柕膹?qiáng)度。有較多的儀設(shè)備采用將光電倍增管輸出的光電流向積分電容設(shè)備充電，測量直讀光譜儀積分電容設(shè)備上的電壓來表示譜線的強(qiáng)度的辦法。