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高壓加速老化試驗(yàn)箱PCT和HAST試驗(yàn)箱的區(qū)別有什么區(qū)別？
點(diǎn)擊次數(shù)：261 發(fā)布時(shí)間：2024-10-30
高壓加速老化試驗(yàn)箱PCT（Pressure Cooker Test）和HAST（Highly Accelerated Stress Test）試驗(yàn)箱在多個(gè)方面存在顯著差異。以下是對(duì)兩者的詳細(xì)對(duì)比：
一、老化環(huán)境
PCT高壓老化箱：主要模擬高溫高濕蒸汽環(huán)境，同時(shí)施加壓力。通常設(shè)定在121°C和2.1atm（或21.16bar，即211.6kPa，也作2個(gè)大氣壓）的條件下進(jìn)行測(cè)試，且濕度默認(rèn)為100%。
HAST高壓老化箱：模擬高溫高濕條件下的腐蝕性氣氛。通常在110°C和100%相對(duì)濕度（但濕度范圍可調(diào)至70%~100%）下進(jìn)行測(cè)試，同時(shí)壓力也可調(diào)。
二、測(cè)試速度
PCT高壓老化箱：由于測(cè)試條件相對(duì)溫和，通常需要數(shù)百小時(shí)到數(shù)千小時(shí)才能展現(xiàn)產(chǎn)品的老化情況。
HAST高壓老化箱：測(cè)試條件更加嚴(yán)苛，因此可以更快地展現(xiàn)產(chǎn)品的老化情況。通常測(cè)試時(shí)間可以在幾十小時(shí)到幾百小時(shí)之間。
三、應(yīng)用范圍
PCT高壓老化箱：主要用于電子元器件、電路板、半導(dǎo)體器件等的可靠性測(cè)試，特別適用于測(cè)試這些產(chǎn)品在高溫高濕蒸汽環(huán)境下的密封性能和老化性能。
HAST高壓老化箱：同樣適用于IC封裝、半導(dǎo)體、微電子芯片、磁性材料等產(chǎn)品的密封性能和老化性能測(cè)試，但因其測(cè)試條件的多樣性和可調(diào)性，應(yīng)用范圍更廣，也被稱為全能型老化測(cè)試設(shè)備。
四、設(shè)備構(gòu)造
PCT高壓老化箱：一般采用不銹鋼材料或高溫合金材料構(gòu)建，以抵御高溫高濕環(huán)境對(duì)設(shè)備的腐蝕。內(nèi)膽采用圓弧設(shè)計(jì)，符合國(guó)家安全容器標(biāo)準(zhǔn)，可以防止試驗(yàn)結(jié)露滴水現(xiàn)象。
HAST高壓老化箱：通常使用耐腐蝕材料如鎳合金等構(gòu)建。同樣采用圓弧內(nèi)膽設(shè)計(jì)，并配備雙層不銹鋼產(chǎn)品架（也可根據(jù)客戶產(chǎn)品規(guī)格尺寸定制）。此外，HAST試驗(yàn)箱在優(yōu)化設(shè)計(jì)、做工精細(xì)度、傳感器配置、試樣架設(shè)計(jì)以及安全保護(hù)措施等方面也更為先進(jìn)和完善。
綜上所述，PCT和HAST試驗(yàn)箱在老化環(huán)境、測(cè)試速度、應(yīng)用范圍和設(shè)備構(gòu)造等方面存在顯著差異。具體選擇哪種老化測(cè)試設(shè)備應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的特性和需求來(lái)決定。