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電感耦合高頻等離子體發(fā)射光譜儀（ICP-AES）發(fā)射光譜理論原理
原子發(fā)射光譜分析測定的是原子外層電子從高能級向低能級躍遷時(shí)發(fā)射出的電磁輻射。在原子外層電子“跳回”和“躍遷”的過程中原子所放出的能量和所接受的能量與輻射或吸收的電磁波的波長有嚴(yán)格的一一對應(yīng)的關(guān)系：
ΔΕ=hν= hc/λ
ΔΕ—量子狀態(tài)的能量差；h—普朗克常量；ν—輻射的電磁波頻率；c—光速；λ—波長。
故不同的原子擁有其*的特征性光譜，可以看作為是其“指紋”，用來作為定性分析的基礎(chǔ)。而譜線強(qiáng)度則可以用作定量分析的基礎(chǔ)。I=abc。
電感耦合高頻等離子體發(fā)射光譜儀（ICP-AES）是通過原子發(fā)射光譜衍生出來的分析技術(shù)。是采用ICP光源作為激發(fā)光源，是樣品激發(fā)，發(fā)出多含元素的特征譜線，由分光系統(tǒng)將各種組分原子發(fā)射的多種波長的光分解成光譜，由檢測系統(tǒng)接收，經(jīng)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)處理分析，終得出結(jié)果。根據(jù)特征譜線的存在與否，鑒別樣品中是否含有某種元素（定性分析）；根據(jù)特征譜線強(qiáng)度確定樣品中相應(yīng)元素的含量（定量分析）。
樣品經(jīng)霧化等技術(shù)導(dǎo)入，被激發(fā)，通過分光系統(tǒng)進(jìn)行分光，到達(dá)檢測器，通過與計(jì)算機(jī)連接，數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化得到終測試結(jié)果。