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超低頻率介電常數(shù)測試儀
閱讀：3458發(fā)布時間：2018-5-16
超低頻率介電常數(shù)測試儀工作頻率范圍是20Hz～1MHz,它能完成工作頻率內對絕緣材料的相對介電常數(shù)(ε)和介質損耗角 (D或tanδ)變化的測試。
超低頻率介電常數(shù)測試儀中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用高頻阻抗分析儀作為指示儀器。絕緣材料的介電常數(shù)和損耗值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗值)變化和Cp（電容值）讀數(shù)通過公式計算得到。
◎ 高頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示，保證了ε和D值精度和重復性。 ◎ 介電常數(shù)測量范圍可達1～105
超低頻率介電常數(shù)測試儀主要技術指標：
2.1 ε和D性能：
2.1.1 固體絕緣材料測試頻率20Hz～1MHz的ε和D變化的測試。
2.1.2 ε和D測量范圍：ε：1～105，D：0.1～0.00005，
2.1.3 ε和D測量精度（10kHz）：ε：±2% ， D：±5%±0.0001。
頻率范圍：20Hz～1MHz 數(shù)字合成，
精度：±0.02%
電容測量范圍：0.00001pF～9.99999F 六位數(shù)顯
電容測量基本誤差：±0.05%
損耗因素D值范圍：0.00001～9.99999 六位數(shù)顯
介電常數(shù)測試裝置（含保護電極）： 精密介電常數(shù)測試裝置提供測試電極，能對直徑φ10～56mm，厚度<10mm的試樣測量。
它針對不同試樣可設置為接觸電極法，薄膜電極法和非接觸法三種，以適應軟材料，表面不平整和薄膜試樣測試。
2.4.1 微分頭分辨率：10μm
2.4.2 zui高耐壓：±42Vp（AC+DC）
2.4.3 電纜長度設置：1m
2.4.4 zui高使用頻率：30MHz
標簽：電壓擊穿試驗儀 介電擊穿強度試驗儀 耐電壓強度擊穿試驗儀 絕緣電阻體積表面電阻率測試儀 介電常數(shù)測試儀 介電常數(shù)介質損耗因數(shù)測試儀 絕緣電氣強度試驗儀 高壓漏電起痕試驗儀
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