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在不同溫度下半導體材料的電阻變化-熱刺激電流試驗儀
在不同溫度下半導體材料的電阻變化-熱刺激電流試驗儀
熱刺激電流試驗儀是一種用于測量材料在不同溫度下的電阻變化關系的儀器。熱刺激電流試驗儀可以用于研究和開發(fā)新材料，以及評估現(xiàn)有材料的性能。例如，在電子行業(yè)中，這種儀器可以用于測試半導體材料的導電性能，以及研究材料在高溫或jiduan環(huán)境下的性能變化。
需要注意的是，使用熱刺激電流試驗儀需要具備一定的專業(yè)知識和操作技能，以確保測試結果的準確性和可靠性。同時，在操作儀器時，需要注意安全事項，如避免高溫燙傷、避免電流過大等。
華測HTSC-2000熱激勵電流試驗儀，采用冷臺的方式進行加溫與制冷，測量引用使用低噪聲線纜，減少測試導線的影響，同時電極加熱采用直流電極加熱方式，減少電網(wǎng)諧波對測量儀表的干擾。具有強大測試功能，設備較大支持測試電壓10kV，同時測試功能上也增加了高阻測試、擊穿測試、也方便擴展介電譜等測量功能。它能夠在不同測量條件和測量模式下進行連續(xù)和高速的測量，可用一臺HC-TSC2000熱刺激電流測試儀就能取代功能材料測試眾多儀器的測量功能！
優(yōu)勢：
支持的硬件：
外置6517B或其它高壓直流電源
外置的高壓放大器（+/-100V到+/-10 kV）
塊體陶瓷樣品夾具
溫度控制器和溫度腔
測試功能：
熱釋電測試
漏電流測試
用戶定義激勵波形