產(chǎn)品分類(lèi)品牌分類(lèi)
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多通道電流矩陣模塊 鐵電分析儀 高壓功率放大器 塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化(離子遷移)評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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壓電材料電場(chǎng)應(yīng)變特性的測(cè)試儀 激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
電擊穿的判斷
1、在電擊穿的同時(shí),回路中電流增加和試樣兩端電壓下降。電流的增加可使斷路器跳開(kāi)或熔絲燒斷.但是有時(shí)也可由于閃絡(luò)、試樣充電電流、漏電或局部版電電流、設(shè)備磁化電流或誤動(dòng)作而引起斷路囂跳開(kāi).因此,斷路器應(yīng)與試驗(yàn)設(shè)備及被試材料的特性相匹配,否則,斷路器可能會(huì)在試樣未擊穿時(shí)動(dòng)作或當(dāng)試樣擊穿時(shí)斷路器不動(dòng)作,這樣便不能正確地判斷出是否擊穿。即使在最好的條件下,也存在周?chē)劫|(zhì)先擊穿的情況也會(huì)發(fā)生。因此,在試驗(yàn)過(guò)程中要注意觀察和檢測(cè)這些現(xiàn)象,若發(fā)現(xiàn)媒質(zhì)擊穿,應(yīng)在報(bào)告中注明.
注:對(duì)漏電檢測(cè)電路敏感性特別重要的那些材料,在這種材料的標(biāo)準(zhǔn)中也應(yīng)作同樣的說(shuō)明。
2、在垂直于材料表面方向試驗(yàn)時(shí)通常容易判斷,無(wú)論通道是否充有碳粒,當(dāng)擊穿發(fā)生后用肉眼容易看到真實(shí)擊穿的材料.
3、當(dāng)平行于材料表面方向試驗(yàn)時(shí),要求判斷是由試樣破壞引起的擊穿現(xiàn)象還是由閃絡(luò)引起的失效??梢酝ㄟ^(guò)檢查試樣或使用再施加一次電壓的辦法來(lái)進(jìn)行鑒別,再次施加的電壓值應(yīng)小于第一次施加的擊穿電壓值。試驗(yàn)證明,再次施加的電壓值為di一次擊穿電壓值的50%比較合適,然后用與di一次試驗(yàn)相同的方法升壓直到破壞。
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