薄膜厚度測試儀/塑料薄膜、薄片自動高精度測厚儀  型號：H1CHY-CA

適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測量

薄膜厚度測試儀器特　　征
微電腦控制、液晶顯示
菜單式界面、PVC操作面板
接觸式測量
測頭自動升降
自動進樣
手動、自動雙重測量模式
數(shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計
顯示zui大值、zui小值、平均值和統(tǒng)計偏差
可設(shè)進樣步距、測量點數(shù)、進樣速度等參數(shù)
標準接觸面積、測量壓力（非標可選）
顯示zui大值、zui小值、平均值和統(tǒng)計偏差
標準量塊標定
RS232接口
網(wǎng)絡(luò)傳輸接口支持局域網(wǎng)數(shù)據(jù)集中管理與互聯(lián)網(wǎng)信息傳輸
薄膜厚度測試儀器指標
測量范圍：0～2mm；0～6mm，12mm（可選）
分 辨 率：0.1μm
測量壓力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（紙張）
接觸面積：50mm2（薄膜）；200mm2（紙張）
　　　　　注：薄膜、紙張任選一種；非標可定制
進樣步距：0～1000mm
進樣速度：0.1～99.9mm/s
電　　源：AC 220V 50Hz
外形尺寸：461mm（L）×334mm（B）×357mm（H）
凈　　重：32kg
薄膜厚度測試儀器標　　準
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
薄膜厚度測試儀器配　　置
標準配置：主機、標準量塊一件
選 購 件：專業(yè)軟件、通信電纜、測量頭、配重砝碼