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新產品-非接觸電阻率測試儀 非接觸厚度測試儀 非接觸方塊電阻測試儀 型號：HAD-JXNR-1
一、產品特點
1.非接觸測量硅半導體材料的電阻率
2.適合測試硅片，不損傷樣品表面。
3.采用通用PC處理數(shù)據(jù),方便數(shù)據(jù)存儲、打印
4.軟件界面直觀友好
5.樣片校準快速、方便
二、推薦工作條件
1． 溫度：23±2℃
2． 濕度：60%~70%
3． 無強光照、無強磁場、不與高頻設備鄰近
三、參數(shù)指標
1．整機尺寸：340mm×260mm×150mm
2．電阻率量程：0.1~50Ω﹡㎝
3．誤差范圍：±5%
4．硅片厚度：適合150-600um厚度
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