CBTZ-3100Z型自動(dòng)對(duì)位探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
CBTZ-3100Z型自動(dòng)對(duì)位探針臺(tái)操作簡(jiǎn)單，快捷，測(cè)試精度高，具有MAP顯示功能。它與測(cè)試儀連接后，能自動(dòng)完成對(duì)各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及功能測(cè)試 。
CGO-4高低溫真空探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
CGO-4高低溫真空探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)77K-675K（液氮）；超高溫度分辨率；低溫具有*穩(wěn)定性
CT-6非真空高低溫探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
CT-6非真空高低溫探針臺(tái)大可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試采用密閉腔結(jié)構(gòu)，屏蔽外部電信干擾同時(shí)保持氮?dú)庹龎涵h(huán)境下樣品在低溫時(shí)無結(jié)霜
CINDBEST CJ-4高溫測(cè)試測(cè)量探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
CINDBEST CJ-4高溫測(cè)試測(cè)量探針臺(tái)大可用于8英寸以內(nèi)樣品測(cè)試 ；可滿足500度高溫測(cè)試 ；溫度穩(wěn)定性高 ；兼容IV/CV/RF測(cè)試
CW-4 IGBT高壓大電流測(cè)試探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
CW-4 IGBT高壓大電流測(cè)試探針臺(tái)大可用于8英寸以內(nèi)樣品測(cè)試 ；可升級(jí)做射頻，大電流方面的測(cè)試和激光修復(fù)應(yīng)用
CH-12綜合性分析探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
CH-12綜合性分析探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)大可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試；操作便捷，功能其全，高效精準(zhǔn) ；可滿足晶片測(cè)試、光電器件測(cè)試、PCB/IC測(cè)試、射頻測(cè)試、高壓大...
CINDBEST CH-8|8~12“ 探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
CINDBEST CH-8|8~12“ 探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)大可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試；操作便捷，功能其全，高效精準(zhǔn) ；可滿足晶片測(cè)試、光電器件測(cè)試、PCB/IC測(cè)...
CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測(cè)試探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測(cè)試探針臺(tái)CL系列探針臺(tái)可兼容高倍率金相顯微鏡，可微調(diào)移動(dòng) ；可升級(jí)做射頻，大電流方面的測(cè)試和激光修復(fù)應(yīng)用
CS-4小型探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
CS-4小型探針臺(tái)CS系列探針臺(tái)大可用于6英寸以內(nèi)樣品測(cè)試 ；可滿足I-V/C-V，PIV測(cè)試，光電測(cè)試等。
C-2迷你小型探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
C-2簡(jiǎn)易探針臺(tái)C-2系列探針臺(tái)可滿足I-V/C-V，PIV測(cè)試，光電測(cè)試等；外形輕盈，操作方便，價(jià)格實(shí)惠；(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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