瑞典百歐林科技有限公司產品一覽
QSense®耗散型石英晶體微天平(QCM-D)
技術和儀器能夠實時分析分子相互作用和監(jiān)測表界面質量與結構變化。多種型號、測試模塊和100多種芯片表面供選擇，芯片表面支持定制。
KSV NIMA LB 膜沉積和表征工具
Langmuir 和Langmuir-Blodgett 膜分析儀、布魯斯特角顯微鏡、界面剪切流變儀等系列產品用于在氣液界面、液液界面、氣固界面上有序的單層和多層結構的組裝和表征，使薄膜制造和表征領域的前沿創(chuàng)新成為可能。
Attension®表面張力/接觸角測量儀
能夠為工業(yè)研發(fā)和學術研究提供精確的表面張力、接觸角、表面自由能等測量。
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