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ORTEC輻射探測(cè)器具有多種電子設(shè)計(jì)特性，提高了性能和安全性

采用各種低溫恒溫器配置和杜瓦瓶尺寸的標(biāo)準(zhǔn)液氮冷卻，可支持大多數(shù)輻射探測(cè)器應(yīng)用

ORTEC提供一系列支持NaI（Tl）和LaBr探測(cè)器配置的電子套件

高光輸出和快速衰減時(shí)間輸出脈沖

與閃爍體相互作用的伽馬射線產(chǎn)生光脈沖，該光脈沖由光電倍增管（PMT）轉(zhuǎn)換成電脈沖

用于現(xiàn)場(chǎng)能譜測(cè)量的完整耐用NaI探測(cè)器耐用的集成NaI探測(cè)器采用堅(jiān)固的鋁制外殼-有2英寸x2英寸和3英寸x3英寸的尺寸可供選擇

ORTEC提供一系列基于閃爍的輻射探測(cè)器解決方案，包括活化的[NaI（Tl）]和溴化鑭[LaBr3（Ce）]

主要應(yīng)用用于環(huán)境光線下在真空或空氣中進(jìn)行帶電粒子譜測(cè)量；可清潔

主要應(yīng)用重離子譜學(xué)

主要應(yīng)用用于重離子飛行時(shí)間測(cè)量

主要應(yīng)用從準(zhǔn)直光源或光束目標(biāo)反向散射；角度相關(guān)測(cè)量

主要應(yīng)用粒子識(shí)別、望遠(yuǎn)探測(cè)器、任何類型的E測(cè)量

主要應(yīng)用高分辨率帶電粒子譜測(cè)量

ORTEC提供各種耗盡厚度的硅面壘型探測(cè)器，可滿足眾多研究應(yīng)用的需求

能譜學(xué)中見(jiàn)的應(yīng)用領(lǐng)域是放射化學(xué)、保健物理和環(huán)境樣品的篩查

ORTEC在20世紀(jì)60年代早期推出了款用于帶電粒子譜測(cè)量的硅面壘型探測(cè)器

低溫恒溫器、杜瓦瓶、低溫恒溫器/杜瓦瓶組件和電冷卻所有HPGe輻射探測(cè)器都需要冷卻到低溫，才能正常運(yùn)行

ORTEC可為的應(yīng)用或更嚴(yán)格的性能要求提供特殊的探測(cè)器設(shè)計(jì)

ORTEC潛水光子探測(cè)器（SPD-1）專為乏燃料池中的核燃料元件掃描測(cè)量而設(shè)計(jì)