低溫試驗箱設備型號 箱內尺寸（深×寬×高mm） 外形尺寸（深×寬×高mm）
YSDW-50 320×350×450 790×800×1220 
YSDW-100 500×400×500 970×850×1320
YSDW-150 500×500×600 980×932×1470
YSDW-225 500×600×750 1003×1050×1570 
YSDW-250 520×620×780 1060×1080×1740
YSDW-500 800×800×800 1350×1250×1380
YSDW-800 800×1000×1000 1350×1500×1930
YSDW-010 1000×1000×1000 1450×1500×1930 
注：以上為常規(guī)尺寸型號，可以定制。

低溫試驗箱性能指標

溫度范圍： A:-20℃~150℃ B:-40℃~150℃
C:-60℃~150℃ D:-70℃~150℃
波動/均勻度： ≤±0.5℃ /±2℃ 
升溫時間： 2℃~3℃/min （空載）
降溫時間 ： 0.7℃~1℃/min （空載） 

溫度控制系統(tǒng)

控制器： 進口日本“富士"微電腦溫濕度集成控制器 
精度范圍： 溫度±0.1℃
溫度傳感器 ：鉑金電阻 PT100Ω
加熱系統(tǒng)： 鎳鉻合金電加熱式加熱器
制冷系統(tǒng)： 全封閉風冷單級壓縮制冷/原裝法國“泰康"/全封閉風冷復疊壓縮制冷
循環(huán)系統(tǒng) ：耐高溫低噪音離心式電機，多葉式離心風輪

箱體材質

外箱材質： 優(yōu)質A3鋼板，表面磷化靜電噴塑 
內箱材質： SUS304不銹鋼優(yōu)質2B級光板
保溫材質： 超薄超細玻璃纖維 
門框隔熱： 雙層耐高低溫老化硅橡膠門密封條

滿足標準

GB2423.1—93《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》 試驗A：低溫試驗方法；
GB2423.2—93《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》 試驗B：高溫試驗方法； 

附件

標準配置：多層鋼化玻璃加熱除霜附照明玻璃視窗、試品架2個、測試引線孔（Φ50mm）1個
安全保護 漏電、短路、超溫、壓縮超壓、過載、過電流保護
電源電壓： AC220 或380V±10% 50HZ 三相四線制
使用環(huán)境溫度： 5℃～+30℃ ≤85 %