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可編程高低溫箱的使用方法
可編程高低溫箱模擬了自然環(huán)境中的高溫和低溫，主要用于電工、電子產(chǎn)品及其元件和其他材料在高溫、低溫綜合環(huán)境中輸送、使用的適應(yīng)性試驗(yàn)。適用于產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、改良、鑒定、檢驗(yàn)等過程。所以可編程高低溫試驗(yàn)箱在實(shí)際工作中被廣泛應(yīng)用。其使用縮短了人們對某些產(chǎn)品性能的測試時(shí)間。
（1）歸一化處理
將試驗(yàn)樣品統(tǒng)一歸納放置到正常的試驗(yàn)氣體當(dāng)中，直到超出相應(yīng)的溫度穩(wěn)定后。
（2）初始檢測
可編程高低溫箱破壞性環(huán)境試驗(yàn)箱試驗(yàn)試驗(yàn)整個過程：
1、將要求的試驗(yàn)樣品放到試驗(yàn)箱內(nèi)，并將環(huán)境試驗(yàn)箱(室)內(nèi)溫度升到70，保持1h或者直至試驗(yàn)樣品超出溫度穩(wěn)定，以時(shí)間長都算起。
2、高溫階段結(jié)束后，在5min內(nèi)將試驗(yàn)樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到-55的低溫試驗(yàn)箱(室)內(nèi)，保持1h或者直至試驗(yàn)樣品超出溫度穩(wěn)定，以時(shí)間長都算起。
3、低溫階段結(jié)束后，在5min內(nèi)將試驗(yàn)樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到70的可編程高低溫箱(室)內(nèi)，保持1h或者直至試驗(yàn)樣品超出溫度穩(wěn)定，以時(shí)間長都算起。
4、不斷上述實(shí)驗(yàn)方法，開展3個循環(huán)周期。(注：對大的或重的試驗(yàn)樣品，從1個環(huán)境試驗(yàn)箱轉(zhuǎn)換到此外環(huán)境試驗(yàn)箱的轉(zhuǎn)換時(shí)間，由有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)或相關(guān)文本文檔規(guī)定)。
5、試驗(yàn)結(jié)束后是將被測試驗(yàn)樣品恢復(fù)
試驗(yàn)樣品從試驗(yàn)箱內(nèi)取出后，應(yīng)在一切正常的試驗(yàn)氣體規(guī)范下進(jìn)行恢復(fù)，直至試驗(yàn)樣品超出溫度穩(wěn)定。