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Delphi光學(xué)電子顯微鏡的優(yōu)勢在哪里？
Delphi光學(xué)電子顯微鏡采用Automatic Overlap (自動交疊) 技術(shù)的設(shè)備，簡單的說，借助該設(shè)備，用戶可把光學(xué)顯微鏡所包含的豐富信息和掃描電鏡所*的超高分辨率結(jié)合在一起，觀察研究樣品納米尺度范圍的動態(tài)過程，定位細(xì)胞和有機(jī)體中所發(fā)生的特定事件，通過在熒光圖像中疊加掃描電鏡圖像，實現(xiàn)在一張圖像中同時得到樣品精細(xì)結(jié)構(gòu)和功能物質(zhì)的信息。
該儀器的優(yōu)勢體現(xiàn)：
1、非常容易使用，3 分鐘內(nèi)實現(xiàn)樣品裝載并得到熒光電鏡關(guān)聯(lián)照片
2、無需在電鏡和光鏡之間對樣品進(jìn)行轉(zhuǎn)移，便可對同一位置點獲取熒光和電鏡圖像
3、無需特殊安裝環(huán)境 ,繼承了大部分飛納臺式掃描電鏡的優(yōu)點，體積小，速度快，操作簡單，*防震
4、高度集成的軟硬件，一個軟件界面控制熒光和電鏡操作
5、使用熒光掃描電鏡一體機(jī)，得到細(xì)胞表面物質(zhì)精細(xì)結(jié)構(gòu)和功能物質(zhì)的相關(guān)照片
6、圖像自動重疊技術(shù)，無需人工校準(zhǔn)就能得到熒光和電鏡疊加照片，疊加精度 50nm