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各種標(biāo)準(zhǔn)表述試驗箱（室）溫度均勻性的指標(biāo)及其計算方法
點擊次數(shù)：2101 發(fā)布時間：2014-10-22
一、各種標(biāo)準(zhǔn)表述試驗箱（室）溫度均勻性的指標(biāo)及其計算方法
1、均勻度：以溫度均勻度指標(biāo)來表示試驗箱的溫度均勻性，例如有以下一些標(biāo)準(zhǔn)：
1）英國標(biāo)準(zhǔn)BS389-1965《實驗室濕熱箱技術(shù)條件》：規(guī)定為在*次達(dá)到設(shè)定溫度兩小后，用溫差熱電偶連續(xù)測試兩小時，分別計算每一測試點與中心點的溫差平均值，其中zui大者即為溫度均勻度，其大小不得超過規(guī)定指標(biāo)±0.5℃。
2）日本試驗機(jī)工業(yè)會，恒溫恒濕箱的性能試驗方法：測溫元件置于上、下四角及中心點，上下四角測溫元件距箱壁距離為各自邊長的1/6且不小于50㎜處。當(dāng)溫度達(dá)到恒定狀態(tài)后，對各測試點每隔一分鐘測試一次，共測十次以上，計算每一測試點與中心點的溫差的平均值，其中zui大者即為溫度均勻度。（ESPEC亦采用此指標(biāo)）。
3）美國ASTMD2436-68《電氣絕緣用強(qiáng)制對流實驗室烘箱技術(shù)條件》：用9只熱電偶，一只在距工作室?guī)缀沃行?/span>25㎜內(nèi)，其余8只在上下四角且距箱壁50㎜處。當(dāng)達(dá)到設(shè)定溫度并穩(wěn)定16小時后，盡快記錄9支熱電偶的溫度數(shù)據(jù)，然后，每隔5分鐘記錄一次，共記錄得到45個數(shù)據(jù)。計算45個數(shù)據(jù)的平均值作為箱溫。從45個數(shù)據(jù)中選出兩個zui大數(shù)和兩個zui小數(shù)分別各自減去平均數(shù)，然后從四個差值中選出兩個zui大差值并求其平均值，此值就表述箱內(nèi)溫度均勻度。
4）中國JB/T5520—91《干燥箱技術(shù)條件》：對各測試點連續(xù)測試四次，時間≤20min，計算各測試點四次測得的平均值與中心點四次測試的平均值之差，其中zui大值與zui高工作溫度之比即干燥箱的溫度均勻度，以百分比表示。
5）中國GB10586-89《濕熱試驗箱技術(shù)條件》。各測試點除中心點外，其余各點距箱壁為各自邊長的1/10。當(dāng)溫度達(dá)到規(guī)定值并穩(wěn)定2h后，每隔2min測試各測試點溫度一次，在30min內(nèi)共測15次，再隔30min再測一次，以后每隔1h測一次。利用30min內(nèi)15次的測試數(shù)據(jù)，分別算出每次數(shù)據(jù)中zui高與zui低溫度之差再求其平均值，即為溫度均勻度。
2、溫度偏差：以溫度偏差指標(biāo)來要求試驗箱工作空間的溫度均勻性，如以下一些標(biāo)準(zhǔn)：
1）在美軍標(biāo)MIL-STD-810D，4.4.1試驗條件允差中規(guī)定“試樣*被空氣包圍（必要的支承點除外），試驗區(qū)測區(qū)測理系統(tǒng)的溫度和包圍試件各處的溫度梯度應(yīng)分別在試驗溫度的±2℃以內(nèi)和不超過每米1℃或總的zui大值為2.2℃（試件不工作）"
此標(biāo)準(zhǔn)中用±2℃的溫度偏差和1℃/M的溫度梯度來要求箱內(nèi)工作空間的溫度均勻性。
2）在美軍標(biāo)MIL-STD-202F，2.2.1及MIL-STD-883C，4.5.8中要求工作區(qū)空間內(nèi)任一點的溫度，在給定時間內(nèi)偏離基準(zhǔn)點不超過±3℃（即為容許偏差）。
3）在IEC68號出版物及GB2423中，對試驗箱工作空間的溫度均勻性要求以“容差"即對標(biāo)稱溫度的容許偏差表述。對容差大小，在高溫箱中規(guī)定為±2℃，在低溫箱中規(guī)定為±3℃。
4）在IEC68-2-3，2.1的注中“溫度±2℃的容差是由于考慮到有測量的誤差，緩慢的溫度變化和工作空間的溫度波動度等"。
在IEC216號出版物第四篇老化烘箱中，定義“溫度偏差"是“由于溫度波動度和溫度梯度組合而成的誤差"。
5）GB／T5170·21996《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備》，規(guī)定“溫度偏差"為試驗箱溫度性能指標(biāo)的*檢定項目。溫度偏差的檢定方法是：當(dāng)工作空間指示點溫度*次達(dá)到標(biāo)稱溫度后穩(wěn)定2h。測量各測試點溫度，每2min記錄一次各點的溫度，在30min內(nèi)共測量15次。工作空間各測試點的實測zui高溫度和實測zui低溫度與標(biāo)稱溫度的上、下偏差定為設(shè)備在該標(biāo)稱溫度下的溫度偏差。