公司動(dòng)態(tài)

位移傳感器LK-G5000 系列

閱讀：173 發(fā)布時(shí)間：2017-3-27

測量所有目標(biāo)物

小型感測頭集成了高新技術(shù)，成為“業(yè)界*”。

[全新開發(fā)] ABLE II ACTIVE BALANCED LASER CONTROL ENGINE (動(dòng)態(tài)平衡激光控制引擎)

根據(jù)目標(biāo)物將激光強(qiáng)度自動(dòng)調(diào)整到*狀態(tài)

ABLE II

如今，構(gòu)建良好的ABLE 控制更加強(qiáng)勁。ABLEII 通過平衡激光發(fā)射時(shí)間、激光功率和增益這三種要素，能夠智能優(yōu)化RS-CMOS 功能。此外，ABLE II 具備高速的追蹤能力，比常規(guī)型號(hào)要快八倍。

“高速

“高速”和“高重復(fù)精度”同時(shí)實(shí)現(xiàn)。雙端口數(shù)據(jù)傳輸功能能夠以更高的速度傳輸更高像素的數(shù)據(jù)，從而使重復(fù)精度翻倍。使用四倍速度還能實(shí)現(xiàn)更高速的傳輸。此外，使用全新開發(fā)的HDE*物鏡，可以擁有高度定義的接收光波形和雙倍的像素重復(fù)精度。因此，KEYENCE 實(shí)現(xiàn)了高精度和高再現(xiàn)性，具備勝任高難度應(yīng)用的能力。

*HDE 物鏡= 高精度Ernostar 物鏡高精度測量透明/鏡面物體

透明/鏡面表面測量結(jié)果展示

鏡面反射型

LK-G5000 系列包含一組感測頭，專為玻璃或其他鏡面等高反射物體而設(shè)計(jì)。感測頭包含寬光點(diǎn)和聚焦光點(diǎn)兩種等類型，在這些表面上進(jìn)行高精度測量。感測頭包含寬光點(diǎn)和聚焦光點(diǎn)兩種等類型，在這些表面上進(jìn)行高精度測量。

鏡面反射型

光點(diǎn)直徑 (寬光點(diǎn)型)

光點(diǎn)直徑 (聚焦光點(diǎn)型)

測量觸摸屏的縫隙

這些感測頭中的光學(xué)系統(tǒng)已經(jīng)過優(yōu)化，可在高反射率的鏡面物體上獲得zui大分辨率。通過進(jìn)一步改進(jìn)接收光元件的功能性，現(xiàn)在可穩(wěn)定測量 20 μm 的縫隙。

測量觸摸屏的縫隙

穩(wěn)定測量粗糙物體

在粗糙物體上進(jìn)行穩(wěn)定的測量

寬光點(diǎn)型

看上去平整的表面在放大后就會(huì)發(fā)現(xiàn)有一些細(xì)微的凹凸不平。在使用常規(guī)聚焦光點(diǎn)型傳感器時(shí)，這些細(xì)微的表面不平時(shí)常會(huì)造成測量錯(cuò)誤。通過使用寬光點(diǎn)的感測頭，就可以均化表面不平整的影響，即使在粗糙物體上也能實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的測量。

寬光點(diǎn)型

光點(diǎn)直徑

金屬表面的測量

zui大限度地減少粗糙表面的不平整所造成的影響，例如拉絲金屬表面和橡膠表面等。以往的測量度現(xiàn)在已成為現(xiàn)實(shí)。

圓柱形物鏡

得益于 LK-G5000 系列中使用的圓柱形物鏡，整個(gè)測量范圍內(nèi)的光點(diǎn)寬度始終保持一致。這樣即使目標(biāo)距離感測頭過近或過遠(yuǎn)，平分面積始終不變。

測量精細(xì)物體和輪廓

聚焦光點(diǎn)型

同類中zui小的光點(diǎn)直徑，ø25 μm（LK-H020），可測量從精細(xì)部件到輪廓的任何目標(biāo)物，度達(dá)到行業(yè)zui高水準(zhǔn)。

聚焦光點(diǎn)型

光點(diǎn)直徑

測量 IC 陣腳高度

得益于 delta cut 技術(shù)，濾光片導(dǎo)致的畸變被降至zui低。這些對(duì)光學(xué)系統(tǒng)的改進(jìn)意味著光點(diǎn)不僅在RS-CMOS 上聚焦，在目標(biāo)區(qū)域中同樣聚焦。這樣就能實(shí)現(xiàn)之前無法完成的高精度輪廓測量。

測量 IC 陣腳高度