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天津市拓普儀器有限公司
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首頁(yè) >> 技術(shù)文章 >> 紫外近紅應(yīng)用-薄膜測(cè)量
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目的：研究薄膜的光學(xué)透射性能
檢測(cè):不同金屬薄膜在紫外可見(jiàn)近紅外的光譜
原理：研究薄膜的光學(xué)透射性能以及均勻性
試驗(yàn)方法：
采用紫外可見(jiàn)近紅外分光光度計(jì)中波長(zhǎng)掃描方式，做基線，后測(cè)定樣品
測(cè)定出不同的金屬氧化物薄膜在紫外可見(jiàn)區(qū)光學(xué)性能不同
圖表 1 不同位置反射率
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