高低溫儲存試驗箱HTST概述

1.High Temperature Storage Life Test主要通過溫度150℃、-40℃～+85℃、-55℃～+85℃及在1.1VCC動態(tài)測試條件，對IC產(chǎn)品進行高低溫循環(huán)試測試、冷熱循環(huán)測試、溫度循環(huán)測試、高低溫交變測試、高低溫恒定測試、高低溫操作測試、高低溫儲存測試，是IC芯片封裝、半導體元器件、集成電路、PCB板、手機芯片、CPU芯片做可靠性測試與質量鑒定。每次程式試驗時間為1000～2000小時，檢測其IC產(chǎn)品化學和擴散效應、Au-Al共金效應、電子遷移、氧化層破裂、相互擴散、不穩(wěn)定性、離子玷污等，評估IC產(chǎn)品在實際使用之前在高低溫條件下保持幾年不工作條件下的生命時間。

2.控制系統(tǒng)優(yōu)勢：中英文菜單式人機對話操作方式，有開機自檢功能、溫度線性校正、自動停機、系統(tǒng)預約定時啟動功能；實現(xiàn)工業(yè)自動化，帶數(shù)據(jù)交互功能，能與客戶主機鏈接實現(xiàn)遠程監(jiān)控，了解設備運行狀態(tài)，可以通過任何移動終端監(jiān)控。

高低溫儲存試驗箱HTST性能參數(shù)

1.溫度范圍：-40℃～+150℃；-50℃～+150℃；-60℃～+150℃；-70℃～+150℃。（高溫可定制：+250℃）

2.重點測試溫度范圍：-40℃～+85℃；-40℃～+120℃；-50℃～+150℃、-65℃～+150℃。（可根據(jù)試驗要求選擇溫度范圍）

3.試驗測試方式：高低溫循環(huán)試驗、冷熱循環(huán)試驗、高低溫恒定試驗、高低溫交變試驗、高低溫儲存試驗、高低溫操作試驗。

4.溫度穩(wěn)定度：±0.3℃。

5.溫度均勻度：±1.5℃。

6.升溫速率：3℃～4℃/min平均值。（可定制溫變速率為：5℃/min；10℃/min；15℃/min；20℃/min；25℃/min，線性與非線性溫變。）

7.降溫速率：0.7℃～1℃/min平均值。（可定制溫變速率為：5℃/min；10℃/min；15℃/min；20℃/min；25℃/min，線性與非線性溫變。）

8.制冷系統(tǒng)：*壓縮機及制冷配件模塊化機組設計，方便日常維護與保養(yǎng)。

9.制冷方式：機械壓縮單級制冷或二元復疊制冷（風冷或水冷）。

10.加熱系統(tǒng)：進口SUS304#不銹鋼鰭片式耐熱、耐寒加熱管，加熱空氣式控溫。

11.節(jié)能方式：冷端PID調(diào)節(jié)（即加熱不制冷，制冷不加熱），比平衡調(diào)溫方式節(jié)能30%。

12.標準配置：觀測窗一個；LED視窗燈一支；保險管2支；物料架2套。

13.噪音處理：整機運行時≤60dB（*），滿足萬級高精無塵環(huán)境車間制備工藝需求。

14.前端空氣經(jīng)干燥過濾器處理，產(chǎn)品測試區(qū)及附近無明顯結露現(xiàn)象。設備可以連續(xù)運轉不需進行除霜。

15.保護裝置：壓縮機過載、過流、超壓保護、漏電保護、內(nèi)箱超溫保護、加熱管空焚保護。

16.電源：AC220V(三線制）±10% 或 AC380V（五線制）±5%。

高低溫儲存試驗箱參考標準

1.MIT-STD-883E Method 1010.7。

2.JESD22-A104-A。

3.EIAJED- 4701-B-131。

4.MIT-STD-883E Method 1005.8。

5.JESD22-A108-A。

6.EIAJED- 4701-D101。

7.MIT-STD-883E Method 1008.2。

8.JESD22-A103-A。

9.EIAJED- 4701-B111。