低溫環(huán)境試驗(yàn)艙 參考價(jià)：面議
本系列低溫環(huán)境試驗(yàn)艙可為用戶批量檢驗(yàn)、檢測(cè)電子電工元器件、零配件或大型部件等提供一個(gè)模擬環(huán)境，為測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和*性（可重復(fù)）提供*條件。該產(chǎn)品具有簡(jiǎn)單的操作...
步入式環(huán)境試驗(yàn)室 參考價(jià)：面議
本系列環(huán)境實(shí)驗(yàn)室可為用戶批量檢驗(yàn)、檢測(cè)電子電工元器件、零配件或大型部件等提供一個(gè)模擬環(huán)境，為測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和*性（可重復(fù)）提供*條件。該產(chǎn)品具有簡(jiǎn)單的操作性能...
環(huán)境模擬試驗(yàn)室 參考價(jià)：面議
本系列環(huán)境實(shí)驗(yàn)室可為用戶批量檢驗(yàn)、檢測(cè)電子電工元器件、零配件或大型部件等提供一個(gè)模擬環(huán)境，為測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和*性（可重復(fù)）提供*條件。該產(chǎn)品具有簡(jiǎn)單的操作性能...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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