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                            長(zhǎng)期工作壽命試驗(yàn)簡(jiǎn)介
我們把電子產(chǎn)品在規(guī)定的工作及環(huán)境條件下進(jìn)行的壽命試驗(yàn)稱為工作壽命試驗(yàn)。工 作壽命試驗(yàn)周期在1000小時(shí)以上者稱為長(zhǎng)期工作壽命試驗(yàn)。長(zhǎng)期工作壽命試驗(yàn)又分連 續(xù)工作壽命試驗(yàn)和間斷工作壽命試驗(yàn)兩種。
連續(xù)工作壽命試驗(yàn)
這是傳統(tǒng)的壽命試驗(yàn)方法。試驗(yàn)在室溫下進(jìn)行。它又可分為靜態(tài)工作壽命試驗(yàn)和動(dòng) 態(tài)工作壽命試驗(yàn)。半導(dǎo)體器件的靜態(tài)試驗(yàn)通常對(duì)器件加上zui大直流額定負(fù)荷。如對(duì)晶體 管規(guī)定在室溫(25士5)X：下加上集電極zui大耗散功率，分別在240、480、1000、2000、3000、 4000,5000小時(shí)后測(cè)憊電參數(shù)。這種試驗(yàn)方法是由外加功耗使內(nèi)部結(jié)溫達(dá)到應(yīng)有極限， 以檢驗(yàn)器件的失效情況。通過(guò)此項(xiàng)試驗(yàn)，可以了解產(chǎn)品在額定應(yīng)力下工作的可靠性。動(dòng) 態(tài)試驗(yàn)是模擬器件實(shí)際工作狀態(tài)的試驗(yàn)，所得結(jié)果反映了產(chǎn)品使用的可靠性。如對(duì)集成 電路規(guī)定在室溫下加額定電源電壓、額定負(fù)載和一定頻率信號(hào)的情況下進(jìn)行壽命試驗(yàn)。
間斷工作壽命試驗(yàn)