恒溫恒濕試驗(yàn)箱的可靠性試驗(yàn)人為的差錯(cuò)率
   恒溫恒濕試驗(yàn)箱作為研究對(duì)象。恒溫恒濕試驗(yàn)箱是用來(lái)將芯片放在規(guī)定的溫度及濕度環(huán)境下，看芯片的耐高溫，耐低溫，以及抗?jié)穸刃阅?，由于人為的失誤，難免給分析結(jié)果帶來(lái)較大的差錯(cuò)。因此，需要研究一種更為可靠的數(shù)據(jù)采集方法。恒溫恒濕設(shè)備試驗(yàn)人為差錯(cuò)率可分為下列6種：

1、設(shè)計(jì)上的差錯(cuò)，違反工程學(xué)原理的設(shè)計(jì)，使得一旦操作失誤就會(huì)引起設(shè)備故障；

2、 工藝上的差錯(cuò)，工藝不符合圖紙和工藝要求；

3、 檢驗(yàn)上的差錯(cuò)，把不超過(guò)容許誤差的產(chǎn)品當(dāng)作不合格品，或把超過(guò)容許誤差的產(chǎn)品當(dāng)作合格品；

4、裝配和維修上的差錯(cuò)，裝配和維修不符合圖紙和技術(shù)要求：

5、操作上的差錯(cuò)，操作不合規(guī)定，遺漏了必要的操作步驟或增加了多余的操作步驟，顛倒了操作次序等；

6、處理以上的差錯(cuò)，在高溫高濕試驗(yàn)機(jī)設(shè)備的運(yùn)輸?shù)劫A存等處理過(guò)程中產(chǎn)生的差錯(cuò)。即使發(fā)生了以上差錯(cuò)，系統(tǒng)也不一定馬上發(fā)生故障。但是，這些因素確實(shí)是使系統(tǒng)發(fā)生故障的原因。特別是必要的人員、設(shè)備、程序表、技術(shù)數(shù)據(jù)、后勤等要素不齊備，以及有關(guān)使用上的規(guī)定和程序不完備，是設(shè)備故障的主要原因。所以，在可靠性設(shè)計(jì)中要采取相應(yīng)的措施，防止人為故障的發(fā)生。特別是人的身體與健康狀態(tài)，受到病理限制、生理限制、體力限制的影響，往往會(huì)造成差錯(cuò)。所以對(duì)那些會(huì)因操作差錯(cuò)而發(fā)生非常重大的事故的場(chǎng)合（如飛機(jī)駕駛等），必須確立對(duì)于有關(guān)操作人員健康狀況的某種標(biāo)準(zhǔn)。

恒溫恒濕試驗(yàn)箱的溫濕度傳感器，溫度范圍：低溫0℃—70℃，zui低可達(dá)-150℃；高溫150℃。濕度范圍為： 20—98﹪R.H。主要的通訊端口為RS232 串口。于是，可以通過(guò)研究分析VC0020 的串口通信協(xié)議。