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　　在采樣芯片的外圍電路設(shè)計(jì)上我們采用了高精度的電壓基準(zhǔn)芯片提供給采樣用的比較電壓，改善了以往設(shè)計(jì)中由于線(xiàn)形電源紋波變化導(dǎo)致的采樣數(shù)據(jù)的個(gè)體漂移。

　　在對(duì)采樣芯片的控制和數(shù)據(jù)讀取上我們摒棄了以往產(chǎn)品通過(guò)普通的8051單片機(jī)軟件程序控制的方式,采用了現(xiàn)在電路設(shè)計(jì)流行的大規(guī)模FPGA芯片設(shè)計(jì)技術(shù)和快速光藕隔離技術(shù)，我們?cè)O(shè)計(jì)了對(duì)采樣芯片的硬件處理過(guò)程的算法，從而可以實(shí)現(xiàn)對(duì)采樣芯片的高速采集和高速控制。并且這種設(shè)計(jì)使得對(duì)采集芯片的控制不需要占用CPU的處理時(shí)間，解決了以往設(shè)計(jì)中由于CPU采集數(shù)據(jù)處理不及時(shí)帶來(lái)的數(shù)據(jù)缺失和與PC軟件通信過(guò)程異常中斷(USB中斷)的相關(guān)問(wèn)題。