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在底片黑度，像質(zhì)計(jì)靈敏度符合要求的情況下，哪些缺陷仍會(huì)漏檢？
閱讀：2570 發(fā)布時(shí)間：2016-12-30
（1）小缺陷。如果小缺陷的影像尺寸小于不清晰度尺寸，影像對(duì)比度小于zui小可見對(duì)比度，便不能識(shí)別。因此對(duì)一定的透照條件，存在著一個(gè)可檢出缺陷的臨界尺寸，小于臨界尺寸的缺陷便不能檢出；例如小氣孔、夾渣、微裂紋、白點(diǎn)等。
（2）與照射方向不平行的平面缺陷。平面型缺陷具有方向性，當(dāng)缺陷平面與射線之間夾角過大，會(huì)使對(duì)比度降低，甚至在底片上不產(chǎn)生影像，從而造成漏檢。例如坡口及層間未熔合、鋼板分層的漏檢以及透照工藝不當(dāng)，0角過大造成橫向裂紋漏檢均屬此類情況。
（3）閉合緊密的缺陷。對(duì)某些緊閉缺陷即使透照角度在允許范圍內(nèi)，仍不能產(chǎn)生足夠的透照厚度差，從而造成漏檢。例如緊閉的裂紋、未熔合、鍛件中的折迭等。