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X熒光光譜儀的優(yōu)缺點介紹
閱讀：3056 發(fā)布時間：2017-6-29
X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品，產(chǎn)生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進行檢測。近年來X熒光光譜儀在各個行業(yè)領域中不斷拓展，已經(jīng)為廣泛應用于治金、地質(zhì)、環(huán)保、建材等領域中。
X熒光光譜儀的優(yōu)缺點：
1、優(yōu)點
a) 分析速度高。測定用時與測定精密度有關，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
b) X射線熒光光譜跟樣品的化學結(jié)合狀態(tài)無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒關系（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定 。
c) 非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復多次測量，結(jié)果重現(xiàn)性好。
d) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質(zhì)上屬同一族的元素也能進行分析。
e) 分析精密度高。
f) 制樣簡單，固體、粉末、液體等都可以進行分析。
2、缺點
a）難于作分析，所以定量分析需要標樣。
b）對輕元素的靈敏度要低一些。
c）容易受相互元素干擾和疊加峰影響。