棱鏡耦合測試儀利用波導耦合原理，測量薄膜或體材料的折射率、薄膜厚度，熱光系數以及波導損耗等。對電介質及聚合物膜的膜厚和折射率 / 雙折射進行快速及準確的測量。
測試原理：
是待測樣品通過一個空氣作用的耦合探頭與棱鏡基座接觸,在薄膜與棱鏡之間產生一個空氣狹縫。根據查詢相關資料顯示：棱鏡耦合測試儀采用棱鏡耦合方法測試樣品折射率，可測試波長633nm、935nm、1549nm處的折射率值，通過軟件做曲線耦合科求出任何波段的模擬值。
主要特點：
1、中 / 厚膜膜厚及折射率 ( 尤其是光波導 )測量的選擇。
2、不需要預先知道膜的厚度。
3、*的氣壓耦合方式 , 不需要加耦合液。
性能優(yōu)勢：
1、極大地提高了用戶友好的控制程序 和新測量的功能，允許測量從常見到特殊的薄膜而不需依靠內部系數或菜單式校準曲線。
2、不必預先知曉厚度及折射率；
3、±0.0005 常規(guī)折射率分辨率 - 尤其在大批量生產時比其他技術更具優(yōu)勢(可獲得更高折射率)；
4、通用化 - 沒有固定的薄膜 / 基底合并菜單；
5、可測量雙膜結構中的單膜厚度及折射率；
6、可進行體材料或基底材料的高折射率測量；
7、快速測量薄膜或漫反射光波導參數(20s)。
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