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四探針電阻率測定儀（方塊電阻測試儀、方阻測定儀）可根據不同材料的要求選擇測試探頭；碳化鎢探針探頭用于測試硅類半導體、石墨烯、熱敏材料、金屬、導電塑料等硬質材料的電阻率和方阻；鍍金銅合金探針探頭用于測試柔性材料導電薄膜、PE膜、電容卷積膜、金屬箔、金屬涂層或者碳紙、薄膜、陶瓷、玻璃基底上導電膜（ITO膜）、鋰電池電池電極片、氫燃料電池電極片或納米涂層等半導體材料的電阻率和方阻。儀器適用于半導體材料廠、高校和科研對導體、半導體材料導電性能的測量。
規(guī)格參數：
測量范圍
電阻率：10µΩ?cm～200kΩ?cm
方塊電阻：50µΩ/□～1MΩ/□
模擬電阻：10µΩ～200kΩ
測量精度
電阻率：4%
方塊電阻：4%
模擬電阻：0.1%
測量速度：10次/秒、5次/秒、2次/秒
觸發(fā)方式：內部、手動、外部
測量精度：0.5%
數據接口：RC 232C
環(huán)境溫度：0-45℃
相對濕度：≤95%RH
主機、測試架、四探針探頭、采集軟件（可根據要求定做）
型號：DZF-510
